嵌入式SRAM的可测性设计与研究.pdf

嵌入式SRAM的可测性设计研究 电路与系统 205川95 徐故 摘 要 随着信息技术的发展，设计越来越复杂，给AsIC芯片的生产带来比较大的 挑战，特别是芯片的管脚逐渐增加，降低了芯片的成品率。如何尽早地发现芯片 生产过程中造成的缺陷已成为一个棘手的问题，需要一种好的测试方法来解决这 个问题以缩短推向市场的时间。嵌入式存储器是SOC系统中集成密度最高的器 件，而存储器又是对制造过程中存在的缺陷最敏感的器件之一，各种类型的嵌人 式存储器在当前的SOC设计中被广泛应用，占用了SOC系统大部分面积。为确 保存储数据的可靠性，针对存储器做迅速而高效的测试是不可或缺的，因此如何 对嵌入在SOC系统中的存储器进行完备的测试成为急需解决的课题。 本文的研究即是针对 SOC系统中的嵌入式存储器的可测性设计问题进行 的，主要包括了以下几方面的工作: 首先讨论了SOC系统尤其是其中的嵌入式存储器的可测性的重要性和主要 的测试方法，并对这几种测试方法的优缺点进行比较和总结，进而得出MBIST 是当前嵌入式存储器测试最主流最高效的方法的结论。 然后针对5〕《C系统中常用的SRAM存储器介绍了MBIST的概念，并结合 SRAM结构中存在的各种故障