CCD视觉检测系统整体标定.docVIP

CCD 视觉检测系统的整体标定 为了实现粒度分析仪对复合肥粒度分布的准确检测, 提出了CCD 视觉检测系统的整体标定方法。首先, 分析了检测系统的检测精度; 对光源进行了伺服控制, 以减小光源的不稳定性、不均匀性对视觉检测系统检测精度的影响。然后,确定CCD 合适的扫描速度, 还原了被检测物体的真实形状。最后, 基于直纹曲面理论, 通过对不同直径的钢球进行多次标定, 获得其像素直径和像素坐标, 并借助Ex cel、Mat rox Imag ing Librar y ( MIL) 等工具建立了直纹曲面的数学模型, 实现了对CCD 视觉检测系统的整体标定。实验结果表明, 整体标定以后, CCD 视觉检测系统响应的非均匀性得到了明显改善, 检测误差在±3%以内, 达到了粒度分析仪的设计精度要求。 1.引 言 视觉检测技术是精密测试技术领域中最具有发展潜力的新技术, 它综合运用了电子学、光电探测、图像处理和计算机技术, 将机器视觉引入到工业检测来实现对物体三维尺寸或位置的快速测量, 具有非接触、速度快、柔性好等突出优点。近年来, 视觉检测技术在国内外发展很快, 已广泛应用于各个行业。粒度分析仪正是一套利用视觉检测技术实时获得复合肥的颗粒图像, 并通过工控机对颗粒信息进行处理, 得到颗粒的粒度分布、粒形特征的设备。它的视觉检测系统由两个CCD图像传感器、两个光学镜头、一个条形光源、一个图像采集卡及一个工控机组成。由于CCD响应的非均匀性、光学镜头的制造误差及光源的不稳定性等原因造成了视觉检测系统响应的不均匀性。因此, 必须对CCD视觉检测系统进行标定。 目前, 国内外许多学者在CCD校正方面做 了大量工作。文献分析了CCD暗电流和光电响应不均匀性产生的原因, 在忽略暗电流等因素的条件下提出了量子效率和变波长输入光的校正方法, 减小了CCD像素光电响应不均匀性带来的图像噪声; 文献分析了造成CCD像素灰度不均匀的原因, 用最小二乘法估计出辐照度和期望灰度值的对应值, 并有效地校正了CCD 响应的非均匀性; 文献研究了对比度对CCD测量精度的影响并通过与亮度计结果做对比, 校正了实验结果; 文献通过分析色选机成像系统中使用的大视场、大相对孔径光学系统的光能量衰减, 提出了一种应用于色选机的图像灰度分布校正方法,该方法能快速有效地提高图像质量。文献研究了一种基于分档电子快门控制和增益控制相结合的复合控制方法, 通过对CCD相机实时自动调光, 获得了更高质量图像。文献实现了多相机测量系统的局部标定和全局标定; 另外还有很多学者开展了CCD相机的标定研究 , 但是提出的标定、校正方法算法大多比较复杂, 亦或标定模型建立的比较理想, 都不适合工程应用。 本文从实际工作中CCD视觉检测系统响应的非均匀性出发,首先分析了CCD视觉检测系统响应非均匀性产生的原因, 然后针对粒度分析仪中的CCD视觉检测系统的特点,基于直纹曲面的性质,提出了CCD视觉检测系统的整体标定方法,最后给出了该方法的实验验证及结论。 2 CCD 视觉检测系统及其响应的非均匀性分析 2.1 视觉检测系统的硬件构成 图1为粒度分析仪中的视觉检测系统原理图, 是典型的背光式视觉检测系统。由于粒度分析仪机械尺寸的限制, CCD的光学系统的物距不能太大(小于260 mm),并要求CCD有尽量大的检测视角(大于15b); 同时由于采用高速线阵CCD,扫描速度快, 曝光时间短,所以粒度分析仪的CCD 视觉检测系统配置了高亮度单色光源和大孔径、大视场的光学成像系统。 2.2 检测精度分析 粒度分析仪检测的对象是直径为0. 5-20mm的近似球状颗粒。选用镜头焦距为28 mm；CCD 图像传感器为2048 pixel,单个像素尺寸为14μm*14μm。镜头与被检测对象之间的距离是250 mm,在该位置CCD传感器每个像素对应被检测物体宽度为0.014/28*250= 0.125 mm, 即理论分辨率为0.125 mm；1mm 宽的物体在CCD传感器上对应8pixel,所以完全能满足粒度分析仪的检测精度。 2.3 CCD 视觉检测系统响应的非均匀性分析 由于CCD 制造工艺过程及材料的非均匀性,如沟道掺杂浓度不均匀、表面密度分布不均匀以及栅氧化物厚度不同所造成的开启电压不同、感光单元有效面积不同等都会引起CCD 光敏元件响应的非均匀性, 而且越是大规模的器件, 非均匀性问题越突出, 同时由此造成的暗电流的分布也是不均匀的, 这直接引起CCD 的固定图像噪声,导致CCD 在实际测量中存在所测得结果与实际值不符的问题。 光学镜头采用多种镜片结构主要是为了纠正单块镜片所造成的失真, 但是由于光线在镜片中的折射率不一样, 透过镜片后会因为镜片的干扰而产生像差, 例如球面像差, 晕光和失