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第33卷 第5期 稀有金属材料与工程 、,01.33.No.5
2004年 5期 RAREMETALMAERIALSANDENGINEERn、jG Mav2004
纳米ITo粉末及高密度ITo靶
制备工艺的研究现状
张维佳,王天民,糜碧,洪 轲
(北京航空航天大学,北京100083)
Tin0xide)纳米粉末的制备方法如均相共沉淀法,水溶液共沉淀法,电解法,溶
摘 要:对铟锡氧化物IT0(Indium
胶.凝胶法,喷雾燃烧法,喷雾热分解法等以及IT0磁控溅射靶的现有几种制各工艺进行了综合评述。阐述了各种制备
1j艺过程和工作原理,比较和分析了各工艺方法的优缺点,并提出了制备高品质ITO粉末及TTO靶的努力方向。
关键词:纳米粉末;IT0:溅射靶
23.72
中图法分类号:TFl 文献标识码:A 文章编号:1002.185x(2004)05.0449·05
IT0膜导电性能;其二,低密度IT0靶面在溅射过程
1 前 言
中容易产生一些黑化物质称其为结瘤12J,这些结瘤是
近年来,笔记本电脑、掌上电脑等越来越普及, 低价氧化铟并处在靶表面腐蚀跑道周边,在溅射过程
这些电脑都采用液晶平板显示器和等离子体显示器, 中会引起飞弧现象(即局部击穿放电1,这将导致IT0
其开关速度快且体积小,质量轻,并且从经济上讲这 膜中出现杂质缺陷,并且由于等离子体辉光不稳定而
些显示器价格占电脑的l/4~l/2,更重要的是其利润占 导致溅射工艺不稳定。为此须将靶卸下来以便清除这
电脑的l/3以上。这是因为这类显示器有相当的高科 些黑色结瘤,这又影响了工艺的持续性和生产效率【8】;
技含量,而其透明电极都采用IT0膜…,该膜制备工艺 其三,低密度ITO靶热导率低,在溅射过程中由于存
又是决定其质量的关键技术之一。 在热应力而使靶开裂【9】;其四,高密度靶使用寿命长
制备IT0膜的方法很多,但要制备大面积且高性 且靶不太厚,但低密度靶必须靶厚才能提高使用寿命,
能的ITo膜,目前公认最好的方法是采用磁控溅射方 而靶面磁场强度与磁芯距离成平方反比,所以太厚的
法【2]’而所需的磁控ITO靶有铟锡In.Sn合金靶和ITo靶其表面上的磁场强度就弱,从而不能有效地进行磁
陶瓷靶2种。制备铟锡合金靶较容易,但磁控溅射IT0控溅射[9】;其五,均匀性好靶溅射出的膜其成分才均
膜在工艺上有一定难度,工艺参数对ITO膜性能太敏 匀,反之亦然。这些是我们多年实验中的体会,也是
感【3,4】,尤其是氧成分难以控制。与此相反,制备ITO普遍共识。而提高ITO靶密度取决于IT0粉末和制靶
陶瓷靶相对比较复杂,但磁控溅射ITO膜较容易,】: 工艺。对ITO粉末要求颗粒越细越好。因为粉末越细,
艺参数与膜性能依赖性不强【3,5,6】,因为靶本身就是铟 则制备出的靶越致密。若是纳米级ITO粉末并加上好
锡氧化物,氧含量控制较容易。考虑到规模生产,一 的制靶工艺,则ITO靶相对密度可达97%以上甚至
般都采用ITO陶瓷靶。为此,首先要制备出ITO粉末,99%【ⅢJ,还可降低烧结温度【…。
再经高压压制并烧结成ITO靶。
2 纳米ITo粉末的制备
一般来说,IT0膜越导电越透明其显示屏的开关
速度越快且显示效果越好。而要制备出这样高性能且 一般来说,对IT0粉末具体要求是[12]:颗粒尺寸
可规模化生产的ITO膜,就要求采用均匀性好且密度 小于100nm,比表面积大于15
m2/g并且颗粒形貌呈
高的IT0靶【3~6】。这是因为:其一,溅射出的ITO膜
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