同步辐射X荧光法分析矿物流体包裹体若干问题的探讨.pdfVIP

第 卷，第 期 光 谱 学 与 光 谱 分 析 ， ， 20 3 Vol.20 No.3 395-398 pp 年 月 ， 2 0 0 0 6 S ectrosco andS ectralAnal sis June 2000 p py p y !!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!!! 同步辐射 荧光法分析矿物流体包裹体若干问题的探讨 X 詹秀春 马光祖 安庆骧 黄宇营 吴应荣 李光成 国家地质实验测试中心，100037 北京 中国科学院高能物理所，100039 北京 中国地质科学院测试所，100037 北京 摘 要 本实验的目的是研究北京同步辐射装置（ ）的 实验装置对地质样品中的元素、特别是对 BSRF XRF 轻元素的检测能力，并探讨利用目前这套装置检测流体包裹体样品时的若干问题。样品是以国家标准物质 为基体，加入一定量的 、 ，混合均匀后压制成的厚样片。测量在 的 实验站 GBW07106 Nacl Kcl BSRF XRF 进行，储存环电流约为 。样品与 （ ）半导体探测器的距离为 ，同步辐射源的束斑为 40 mA Si Li 2 cm 20X20 m2。实验在大气条件下进行，采谱时间为200秒。计算了各元素的相对检出限、采样深度、采样量和绝 ! 对量检出限 （达 -8 -10 ）；并讨论了现有条件下分析流体包裹体样品时的可测量元素范围、包裹体 10 10 深度的测量方法及深度对元素XRF强度的影响、实验设备的最佳几何配置等问题。 主题词 北京同步辐射装置， 同步辐射 荧光法， 检出限， 流体包裹体 X 量的 和 试剂，经研磨均匀后，制成适于分析的样 Nacl Kcl 引 言 片。实验的目的是探讨 的 实验装置对地质样品 BSRF XRF 中的元素、特别是对轻元素的检测能力，以及与流体包裹体 在BSRF，利用同步辐射光源进行XRF分析，已经有十 SXRF分析有关的一些问题。 年的历史。通过各领域的用户与同步辐射