GaAsAl_xGa_(1-x)As对称耦合双量子阱中激子结合能的压力效应.pdfVIP

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GaAsAl_xGa_(1-x)As对称耦合双量子阱中激子结合能的压力效应.pdf

2009年9月 内蒙古大学学报(自然科学版) Sept. 2009 第40卷第5期 ofInner V01.40No.5 Journal MongoliaUniversity 文章编号:looo一1638(2009)05—0562—07 激子结合能的压力效应。 朱俊,班士良 (内蒙古大学物理科学与技术学院,呼和浩特010021) 摘要:考虑三元混晶效应,采用变分法讨论GaAs/AI:Ga。一,As对称耦合双量子阱中激子结合 能的压力效应,并计算激子结合能随阱宽和中间垒宽的变化关系以及Al组分的影响.结果表 明,激子结合能随阱宽的增加先增加至极大,随后减小;随垒宽则先减小到极小,随后增加.结 合能随压力则近线性增加,且当阱宽较宽时,Al组分对结合能的影响不明显. 关键词:对称耦合双量子阱;激子结合能I压力效应 中图分类号:0471.3文献标识码:A 引 言 随着新实验现象n~33的发现和新型光电子器件如半导体级联激光器“’53等应用研究的发展,耦合 中激子基态结合能随阱宽的变化关系,但作者忽略了阱和垒中介电常数、电子(空穴)有效质量的不 虑激发态对基态的耦合,计算了激子的跃迁能和振子强度.而后,有人讨论了电磁场作用下耦合双量 子阱中直接间接激子之间的转变03和激子间的相互作用003. 在压力作用下,半导体中原子间距会发生变化,使得能带结构、载流子有效质量、介电常数以及晶 格振动频率等都将改变.早些年,人们针对各向同性的GaAs等材料,研究其禁带宽度的压力系数Q¨, 进而了解载流子有效质量的压力关系C12).有作者又通过实验对压力影响下半导体材料的介电常数n3’ 及晶格振动频率n们进行了研究.Ban等人则采用线性插值法和变分法计算了压力影响下理想GaAs/ 阱中激子结合能的压力效应n,并得出结合能随压力近似线性增加的结论.但有关耦合双量子阱中 激子结合能的压力效应还鲜有报道. 本文计及三元混晶效应,采用变分法讨论GaAs/A1;Ga,一,As对称耦合双量子阱中激子结合能的 压力效应,还将计算激子结合能随阱宽和中间垒宽的变化关系以及Al组分的影响.我们在计算中,还 考虑了更符合实际的阱和垒中介电常数及电子(空穴)有效质量的差别. 1 理论模型 ·收稿日期:2009—04—28 基金项目:高等学校博士学科点专项科研基金资助课题(20070126001);内蒙古自然科学基金重点项目 d02) 作者简介:朱俊(1983~),男,四川达州人,2009级博士研究生. 万方数据 第5期 朱俊,班士良GaAs/AI,Ga卜:As对称耦合双量子阱中激子结合能的压力效应 563 分别设为厶和L。,取材料的生长方向为z轴,垒心为坐标原点.为简单起见,本文只对重空穴激子进行 计算,不考虑对称态和反对称态之间的耦合.在有效质量近似下,系统的哈密顿量为 日=H。+H^+H。一^, (1) 式中,2方向自由电子和空穴的哈密顿量可简写为 H,=一警毒(志丢)“阮,, (2) 其中,下标i=e,h分别表示电子和空穴,mu(z,)代表电子(或空穴)在z方向的有效质量,粒子的势垒 高度为 o,等12iIL。+等, 。 。 K(zi)一.《 , , (3) 『V“,12iJ

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