黄铁矿中金赋存状态的电子探针研究和超微粒金的发现.pdfVIP

维普资讯 乍gg． 黄铁矿中金赋存状态的电子 f砭 探针研究和超微粒金的发现 差堡銎 节6{g。芏|0了‘ (中国科学院地球化学研究所 贵阳 550002， J 提 要 利用 电子操针研究贵州某微细茬染型金矿床中黄铁矿，发现四j圄i超微粒金。 丰文 阐述了用电子探针发现超微粒垒的理论依据和应注意的技术问题， 介绍了电子探针分析的检潮龊 限计算方法与测试技术，并测定了黄铁矿中微量金的含量，提出微量金存在形式的新设想． t 调 电子探针 黄铁矿 金矿床 贵州 黄铁矿是重要的载金矿物，在金矿床的形成过程中是金的主要携带者与富集者。目前， 利用 电子探针研究金的赋存状态 已被普遍注意，有些人经试验后认定，要用 电子束直径1口m 的电子探针发现粒径小于1pm的超微粒金 (次显徽金)是不可能的…。但是 ，我们通过理论剖析 后得出不 同的看法。本工作使用 日本JcxA_-733型电子探针分析仪，对贵州某微细浸染型金 ls5N lO∞ ·4734 收蒋 日期 19蝈1年7月 维普资讯 矿床中一块黄铁矿进行试验，找到超微粒金，并利用 电子探针分析其中所含的微量金，对黄 铁矿 中金的赋存状态进行较深入研究。 1 电子探针寻找超微粒金的理论依据与方法 电子探针的电子束直径为1pm左右，能否用它辨认出粒径小于1,urn的超微粒金，这是人 们普遍关注的问题。因此，有必要对 电子探针的电子束直径与图像分辨率、可检测最小粒径 之 间的关系加 以讨论。 所谓分辨率是指辨认分离质点问微小间距的能力，当两颗问距小于分辨率的试样紧挨时， 从图像中通常是无法分辨开的。但是 ，此处必须强调的是，假如两颗间距小于分辨率，但成分 对比度又比较好的颗粒紧挨或呈包裹状态存在时，固它们所发射的背散射电子信号量相差很 大，在图像中的对 比度很好，完垒可 以被分开，由于黄铁矿的平均原子序数与金相差较大， 两者在图像中反差明显，因此可 以区分开。当然，若金矿物粒径 比电子束直径小很多。如小 于0．1pm，因产生的背散射 电子信号很弱， 目前就较难分辨开。 电子穿入样品中要进行扩散，并激发出X射线，产生荧光效应，因此，电子束直径1pm 的电子探针，定量分析的最小区域一般是 3～ 4pm，样品的平均原子序数越小，密度越低， 可分析的最小范日就越大。因入射 电子在样品内呈高斯分布。据估算，1 ,am的微粒，x射线 强度大约是大块样品的70％，0．1,am粒子的x射线强度估计 为 大块：样 品 的5％左右。因 此，只要 电子束的点分析位置稳定性较好，实验方法先进，0．npm的超微粒金的X射线信号 完全可 以检澍出。 此外，X射线图像是 以小亮点的密集程度来表示对 比度的，点子密集程度代表元素含量 的高低。由于0．1,am~粒的X射线强度大约为大块样品的5％左右，若采用各种增 强信号／ 背景 比的试验条件，完垒可用X射线图像来显示超微粒金的元素分布。只是小亮点的密集程 度较低。照像要重复拍摄两次。 可见，为了用 电子探针寻找超微粒金，提高图像分辨率和检测灵敏度是非常重要的，除 了仪器周有性能外，操作者还应特别注意以下问题。 (1)认真作好电子束对中，尽可能调细 电子束直径。 (2)采用各种可增强信号／背景比的方法，包括分析谱线、分光晶体、加速 电压 、 束 流，放大器增益、脉冲幅度分析器的道宽，上下阀电压等条件的选择。 (3)设置合适的放大倍数、帧扫描速度、调节好图像的亮度和对比度，采用收缩观察 区的方法 以增加小亮点的密度。 通过上述的理论剖析和实际试验，我们认为用 电子探针是可以发现0 ． n∥m的超微粒金。 但超微粒金数量少，发现机率很小，而且能否找