k荧光增强线管及对照普通x线管能谱强度理论计算与实验测量.pdfVIP

K荧光增强X线管及对照普通X线管 能谱强度理论计算与实验测量 中文摘要 x射线技术的应用和发展给医学诊断与治疗带来了很大的方便，但不可低估 它对非受照者及公众的危害。对于常见患体结构——常用接收系统，当入射光子 最小。基于以上条件，谭大刚教授发明并研制了“K荧光增强型X线管，它所 提供的光谱中带有很强的K荧光成份，其能量恰巧为医学诊断的最佳能量。 本文对普通x射线管和K荧光增强型x线管能谱强度作了理论计算。其次， 实验测量了普通x线管能谱强度，并与理论计算值做比较，得出结论： 1、K荧光增强型X线管在发生轫致辐射的同时，也要发生在E1=42．75keV， 诊断中需要的最佳光子能量。 2、通过普通X射线管和K荧光增强型X线管理论能谱强度的比较可知： 当管电压为70一lookV时，K荧光增强型X线管产生的能谱强度在光子能量 42—50keV处得到显著增强。 3、通过实验测量能谱与理论计算值的比较，验证了原有理论公式的正确性， 及原有能谱测量系统和方法的可行性。在今后的实验中，需要对管电流的控制和 测量加以改进，以便得到更精确的能谱。 关键词：普通X射线管，K荧光增强型X线管，能谱强度 The