教学用工业ct实验仪器的设计与开发研究2.pdfVIP

第29 卷 第7 期 核 技 术 Vol. 29, No.7 2006 年7 月 NUCLEAR TECHNIQUES July 2006 教学用工业CT 实验仪器的设计与开发研究 刘丰林 卢艳平 王 珏 （重庆大学光电技术及系统教育部重点实验室ICT 研究中心 重庆 400030 ） 摘要 计算机层析成像（CT ）技术采用射线从多个角度穿透物体来重建断层图像或三维图像，该技术已经广 泛地应用于医学诊断和治疗、工业无损检测和无损评价。因此，对于大学学生来讲，了解和掌握CT 技术的基 本原理具有重要意义。本文详细介绍了用于大学教学的 CD-50BG 型 CT 实验仪。该仪器采用“平移+旋转” 的扫描方式，具有活度为0.74 GBq 的137Cs γ射线源、单个塑料闪烁体+光电二极管的探测器和50 mm 的视场 直径，其中射线源安装在钨合金的屏蔽容器中。同时，开发了图像处理软件对采集数据进行处理，重建断层 图像和重构三维图像。重建断层图像可达到1l p/mm 的空间分辨率和1%的密度分辨率。目前，已经有包括清 华大学、北京大学在内的十余所高校将该仪器用于基础教学。 关键词 计算机层析成像，教学，扫描 中图分类号 TP274+ .51 在过去的 30 年里，计算机层析成像（CT ）技 解和掌握CT 技术原理十分必要。基于这样的目的， 术——一种非侵入式的成像技术，已经广泛应用于 我们研究和开发了系列的教学用工业 CT 实验仪 医学诊断和显微外科手术，以及工业无损检测和无 器，CD-50BG 型教学用工业CT 实验仪就是其中之 损质量评价。工业上主要用于产品缺陷检测、复杂 一。 设备装配正确性检查和产品组成成分分析等[1] 。众 所周知，当γ 射线或X 射线沿某一路径L 穿透工件 1 系统 时，其强度由I0 衰减为I ，如果把衰减系数定义为 1.1 结构 µ(l) ，那么它们之间的关系可由比尔定律确定为： I I 0 exp =− µ(l )dl  （1） CD-50BG 型教学用工业CT 实验仪适用于检测 ∫ 小尺寸工件。机械系统提供一个可作平移、旋转、  L  比尔定律表明：衰减系数沿路径L 的线积分可 升降运动的转台，上面放置检测对象；转台两侧的 由I0/I 取对数获得。雷丹则证明：在一个无限薄的 两个固定的支架分别安装一个射线源和一个探测 切片内，相对线性衰减系数的分布由它的所有线积 器。平移和旋转运动分别由两个步进电机驱动，由 分集合确定[2-3]，即 计算机控制使被测对象按预定扫描要求进行旋转和 平移；转台升降采用手动方式，检测时手动调节使 1 ∞ 1 µ x y =− × ( , ) 2 lim ∫δ 物体检测部位刚好处于被射线扫描的高度位置。扫 2π δ→0 q （2 ） 描机械工作台可以达到 1—8 mm·s-1 的平移速度和 2 π -1 m (x cos y sin q, )d dq θ θ θ θ ∫0 l + +