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天津大学博I垮±位论文
半导体催化膜上
甲烷氧化偶联的NEMCA效应的研究
摘要
本文对甲烷氧化偶联在半导体催化膜上的反应、泵氧反应及NEMCA效应进
行了较为系统的研究。
化偶联结果:在常压、650。C下,分别考察了甲烷流量、氧气流量和总流量(CH4:
02=3:1)对反应结果的影响。结果表明:较高的温度、较小的甲烷流量和总流
垦、较高的02流量对甲烷活化有利;较高的温度、较大的甲烷流量和总流量、
较低的02流量有利于C2烃的生成。反应条件相同,在CaO膜上甲烷氧化偶联
C2烃选择性高于Mn02膜上选择性。
膜上外加电流为16~90mA范围内的传递体系的甲烷氧化偶联反应结果,发现在
C2H6生成速率很小并随泵氧量增大而达到平稳。所以,在P型半导体膜上选择
性比n型半导体膜上的选择性要大,而且选择性都随泵氧量的增大而下降。在P
型半导体膜上,c:烃的选择性与其电导率大小顺序相一致。增强因子的分析结
聚表明,在P型半导体膜上,随泵氧量的增大增强因子有极大值,而增强因子数
值表明,在传递体系中,并未发生NEMCA效应。在CaO膜上与开路体系相比,
传递体系c2烃选择性较高,且随泵氧量增大而下降。
在650。C、常压下、以含1%02的甲烷和氧气混合气进料,考察了在CaO、
合体系的甲烷氧化偶联的反应结果。在这些半导体催化膜上都发生了NEMCA效
是1.457。在n、P型半导体催化膜上,发生NEMCA效应的增强因子有一个极值。
泵氧主要改变C02和c2H6的生成速率;而在SrO膜上施加反向电流主要改变
委里奎兰堕主堂垡堡苎一———
C2}14的生成速率。对n、P型半导体膜上泵离氧有利于c2烃的生成,在联合体
系中的泵氧C2烃选择性低于开路体系的选择性。在Mn02、Ce02膜上泵离催化
膜的氧C:烃的选择性高于开路体系的选择性。
分析了联合体系中发生NEMCA效应的电化学过程。根据总反应速率求出了
总传递系数,并从总传递系数计算了电化学影响效率:
电化学影响效率=i鬲凳螽笺篆薹淼×·。。%
电化学影响效率与n型电导率呈顺序关系,即n型电导率越大,电化学影响效率
越大。通过极化曲线求取了电化学动力学参数,从理论上预测了增强因子,与实
际测量相比,相差无几。结果表明,旋加正向或反向电流,电极上的电化学反应
速率是不一样的,不同的催化膜上电化学反应速率也不一样,即不同催化膜上电
化学特性是不一样的,同时发现同样的方法制各的膜上三相界面的大小相差不
大:1
关键词:氧泵 催化膜 NEMCA效应n型电导率P型电导率
增强因子屯花孚影嗣薇率、 生成速率里相界面钧长度一
奎望查堂壁:!:兰垡堡苎
OCMon
NEMCAof
on
Study
Membranes
Semiconductor
Catalytic
Abstract
Theoxidative of studiedonsemiconducter
methane(OCM)were
coupling
membranes,sodidtheinfluenceofthe tothereactionand
catalytic pumpingoxygen
NEMCAofOCM.
of were inthe
Thereactions
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