VHDL复杂数字系统设计 作者 金西 第6－8章 第8章.pptVIP

图 8-16 系统划分模型 (2) 增加测试功能。这使得在测试时能控制和观测单个模块以及模块间的相互作用。先在设计规范中确定测试功能，不考虑系统的运行细节， 在其次的设置步骤中再将测试功能与实际的软硬件系统运行结合考虑。  可以通过给模块输入激励信号，观测模块边界响应来测试单个模块及模块间的相互作用。这就要求能在外部系统中直接控制和观测模块的边界状态。 但一般来说这是不可能的，因此希望能通过其它模块提供测试激励信号，并观测被测模块的响应。 例如在图8-16中，我们既不能控制模块C的边界状态，也不能在外部系统中观测到它们，这就要通过其它模块进行测试。 正是由于受这些控制和观测的限制，极大地约束了系统的可测试性，主要表现在以下几方面：  ① 必须设置与被测模块相通的测试通道。目前，要做到这一点非常困难。  ② 当检测到故障时，不能确定它是来自于被测模块还是来自于测试通道。  ③ 在实际系统中，事件的顺序和时间序列是很严格的。 因此， 在测试时要求控制输入时序并观测输出时序，而要做到这一点， 就必须对被测模块进行直接检测。 为改善可测试性，我们在设计规范中增加了测试功能， 并使用以下三种测试功能模式。  (1) 透明的测试模式(TTM)。如果通向被测模块的通道是透明的（若能不失真地传递信号则称为透明的），就能解决检修方便性的问题。这种通道可以用附加透明测试操作模式扩展模块来实现。当模块转换成TTM模式时， 它将按预定形式将输入信号直接传送到输出信号，在模块的输入输出间提供一个透明通道。  另外，如果从测试仪器到被测模块的所有存取点不可能或不想建立测试通道，就要增加测试响应器。测试响应器在某种程度上是测试通道的反转，它将可控制信号从被测模块返回给测试仪器。 (2) 内建自测试（BIST）。模块具有自测试功能，它可以降低对外部系统可控制性和可观测性的要求。模块的内置自检功能可以向模块提供测试激励信号，观测和确定响应值。 内置自检可以从外部系统启动，并受外部系统控制，它能向外部系统返回连续/不连续运行的响应或诊断信息。 (3) 控制和观测点（PCO）。控制和观测点是指在模块边界插入的控制、观测点，这些点能使我们从外部系统直接控制和观测模块间的相互联系。一般我们在两个模块的连接处插入一个控制和观测点。控制和观测点除了用于观测和控制模块相互连接，还能和数据存储器一起，在测试模式中读写数据。 在一个系统中，可以通过模式的输入单独控制每个控制和观测点，但一个通用的模式选择可控制许多控制和观测点。透明的测试模式和控制观测点功能在外部系统和内部模块之间提供了通道。该通道不仅传递测试信息，而且传递系统的管理信息，如程序的更新和数据等。 4. 从设计规范到软/硬件实现 当系统的软硬件结构完成后，我们可以对系统进行循环测试。对于所有的测试和诊断控制，这个结构都能提供以下功能， 且适用于每一层的测试。  （1） 初始化系统、 子系统、 模块、 元件（模式的设置， 复位）。  （2） 进入并控制系统每层的次级元件。  （3） 传递测试激励信号。  （4） 控制内置测试结构。  （5） 采集测试结果。  （6） 识别元件。 一般在分层测试结构中有两种策略结合使用：集中和分布。 集中式策略是从一个单独的顶层测试控制模块进入并控制系统所有较低层次；而分布式策略则是尽量将测试的控制分布到每个层次。两者各有优缺点，在这里我们主要讨论分布式策略。 (1) 集中式策略提供了一种简单低耗的测试结构，不要求每个测试层都要有相应的配置和相应的知识对模块进行专门测试。 但由于它的中心测试模块包含有全部的测试内容，我们不能随意用功能相同但使用技术不同的其它模块替换。因此集中式策略是不可变的，且它要在层次之间的测试数据传递基础上才能进行有效通信。 (2) 分布式测试策略更富变化性，因为它的测试技术定位于单个的系统级，这有利于并行测试以减少测试时间。测试功能的分布还降低了系统测试控制模块的复杂程度，且将操作技术限于独立地执行单个测试级激励，因为系统测试控制器能在一个独立层次操作，这避免了使用复杂的专用测试接口。 为提供标准化的通用测试接口，分布式策略能方便地使用可替换的商品化产品，用这种方式很容易开发出测试性能很高的系统。 这种优点使得分布式策略非常适合于测试复杂系统。 (3) 集中式和分布式策略描述的是极端情况。在实际应用中， 设计者经常使用同时具有两者特性