《扫描透射电子显微1》.pptVIP

晶体试样在进行TEM电镜观察时，由于各处晶体取向不同和(或)晶体结构不同，满足布拉格条件的程度不同，使得对应试样下表面处有不同的衍射效果，从而在下表面形成一个随位置而异的衍射振幅分布，这样形成的衬度，称为衍射衬度。这种衬度对晶体结构和取向十分敏感，当试样中某处含有晶体缺陷时，意味着该处相对于周围完整晶体发生了微小的取向变化，导致了缺陷处和周围完整晶体具有不同的衍射条件，将缺陷显示出来。可见，这种衬度对缺陷也是敏感的。基于这一点，衍衬技术被广泛应用于研究晶体缺陷。 衍衬成像，操作上是利用单一透射束通过物镜光栏成明场像，或利用单一衍射束通过物镜光栏成暗场像。 3.相位衬度象 电子束传播过非常薄的试样，试样中原子核和核外电子产生 的库伦场会使电子波的相位有起伏，如果能把这个相位变化转 变为象衬度，则称为相位衬度。即利用电子束相位的变化，由两束以上电子束相干成象。 HRTEM利用相位衬度给出样品的点阵条纹或原子结构像。 双光束成像，多光束成像 4.原子序数衬度　是由于试样表面物质原子序数（或化学成分）差别而形成的 衬度。利用对试样表面原子序数（或化学成分）变化敏感的物理信号作为显像管的调制信号，可以得到原子序数衬度图像。背散射电子像、吸收电子像 的衬度，都包含有原子序数衬度，而特征 X 射线像的衬度是原子序数衬度。 高角度环形暗场(HAADF)的原子序数衬度(Z衬度)像 3. 扫描透射电子显微镜 (scanning transmission electron microscopy，STEM)　　既有透射电子显微镜又有扫描电子显微镜的显微镜。象SEM一样，STEM用电子束在样品的表面扫描，但又象TEM，通过电子穿透样品成像。STEM能够获得TEM所不能获得的一些关于样品的特殊信息。 扫描透射电子显微镜是指透射电子显微镜中有扫描附件者，尤其是指采用场发射电子枪作成的扫描透射电子显微镜。扫描透射电子显微分析是综合了扫描和普通透射电子分析的原理和特点而出现的一种新型分析方式。 扫描透射电子显微镜是透射电子显微镜的一种发展。与 扫描电子显微镜不同之处在于探测器置于试样下方，探测器 接受透射电子束流或弹性散射电子束流，经放大后，在荧光 屏上显示与常规透射电子显微镜相对应的扫描透射电子显微 镜的明场像和暗场像。 4.电子探针显微镜（EPMA） 扫描隧道显微镜 scanning tunneling microscope 缩写为STM 是一种利用量子理论中的隧道效应探测物质表面结构的仪 器。它于1981年由格尔德·宾宁（G．Binning）及海因里 希·罗雷尔（H．Rohrer）在IBM位于瑞士苏黎世的苏黎世实 验室发明，两位发明者因此与恩斯特·鲁斯卡分享了1986年诺 贝尔物理学奖。 它作为一种扫描探针显微术工具，扫描隧道显微镜可以 让科学家观察和定位单个原子，它具有比它的同类原子力显 微镜更加高的分辨率。 此外，扫描隧道显微镜在低温下（4K）可以利用探针尖 端精确操纵原子，因此它在纳米科技既是重要的测量工具又 是加工工具。 优越性 与其他表面分析技术相比，STM具有如下独特的优点 ①具有原子级高分辨率，STM 在平行于样品表面方向上的 分辨率分别可达 0.1 nm 和 0.01 nm，即可以分辨出单个原子 这是中国科学院化学所的科技人员利用纳米加工技术在石墨表面通过搬迁碳原子而绘制出的世界上最小的中国地图。 ②可实时得到实空间中样品表面的三维图像，可用于具有周期性或不具备周期性的表面结构的研究，这种可实时观察的性能可用于表面扩散等动态过程的研究。　　 ③可以观察单个原子层的局部表面结构，而不是对体相或整个表面的平均性质，因而可直接观察到表面缺陷。表面重构、表面吸附体的形态和位置，以及由吸附体引起的表面重构等。(硅111面原子重构象) ④可在真空、大气、常温等不同环境下工作，样品甚至可浸在水和其他溶液中 不需要特别的制样技术并且探测过程对样品无损伤．这些特点特别适用于研究生物样品和在不同实验条件下对样品表面的评价，例如对于多相催化机理、超一身地创、电化学反应过程中电极表面变化的监测等。 (电解液中得到的硫酸根离子吸附在铜单晶(111)表面的STM图象) ⑤ 配合扫描隧道谱（STS）可以得到有关表面电子结构的信息，例如表面不同层次的态密度。表面电子阱、电荷密度波、表面势垒的变化和能隙结构等。⑥利用STM针尖，可实现对原子和分子的移动和操纵，这为纳米科技的全面发展奠定了基础。 1990年，IBM公司的科学家在金属镍表面用35个惰性气体氙原子组成“IB