2013 光度技术问题(衰 加)-.ppt

光度学与色度学基础 《光度学与色度学基础》讲义 －－光信息科学与技术专业 主讲教师：高俊玲 光度量测量与测光仪器 某些光度测量技术问题 光的衰减和叠加 光度和分光光度测量中的杂散光处理 光度微弱信号的检测技术 一、光的衰减和叠加 在应用光度学中，光辐射的强度变化范围很大，而国家的光度标准通常只能提供从10－2～103勒克斯的中等光度标准，所以提供更弱或更强的光标准一般要通过衰减或叠加的方法实现。 1、光的衰减 1）、变化光源距离；（根据距离平方反比定律），该方法精度高、减光连续、中性、使用方便，是最常用的方法。 ?为中性灰玻璃的单位厚度透射比，小于1。 3）、使用偏振片： 　　设在一个偏振片后获得的光照度为E0，在原偏振片后再加一偏振片，则光照度变为： 2）、使用中性减光片： 　　在光路中加入不同厚度（T）的中性灰玻璃或采用镀中性膜等方法制作的减光片实现减光。光照度衰减为： ?为两偏振片偏振方向间的夹角。该方法可实现大倍率减光，减光倍数增大，减光误差迅速增大；一般偏振片不满足中性要求。 4）、使用漫反射板； 　　一束光投射到漫反射板上的照度为E0，则在漫反射板轴线距离 l 处的照度为： d 为漫反射板的直径。该方法可获得的衰减倍率可超过106 ，具有连续性，可有很好的中性衰减，但需要严格的杂散光屏蔽 措施。 P点的照度随着R的减小快速衰减，当光阑为可变光阑时，可实现中性的连续衰减。缺点是不能实现大范围的减光。在精密测量中应用时，当波长大、孔径小时要考虑其衍射修正。 5）、改变光阑孔径 　　半径为R的光阑内有一光亮度为L的屏或透镜，则在光阑轴线上相距 l 处P点的照度为： L P R l 当 l ? R时， 　6）、使用积分球： 积分球入射孔处的照度为E0，R为其半径， r 、 r’ 分别为入射孔和出射孔的半径，则出射孔的照度为： 可实现大倍率的衰减，对杂散光具有理想屏蔽。 7）、使用旋转扇形盘：可实现光的中性衰减 (二)、光的叠加 方法一：双孔径法：用于探测器线性测试中，双孔叠加法原理下图所示： 透镜 探测器 模板 光源 模板正面 　　在可转动的圆盘上开有若干对圆孔，每对面积相等，与相邻一对的面积相差一倍，转动圆盘使每对圆孔依次对准光源，在接收器处得到的照度量值分别为：2E0、4E0、8E0　……，E0为最小孔对准光源时的开单孔对应的照度。 　　方法二、双（多光源）叠加法：在主光轨上放置一标准灯S和一探测器D，由平方反比定律，得标准灯在探测面处的照度为： 　　l 不能太小，因此限制了只用一个标准灯所能达到的照度上限。常用光叠加法，使照度满足要求。 　　在主光轨一侧架一副光轨，上放置一稳定光源S‘，要求S’与S是非相干的，则在探测面上的照度为： 　　 S’ P S D l’ l i 双光源叠加示意图 获得光的叠加：按下述步骤，在探测面处得到E1,2E1,3E1······的照度。 ＊ 首先挡住S‘，并记下检流计的计数i1，此时有：ED＝E1； ＊ 挡住S并移动S’，使检流计计数也达到i1，此时： E2＝E1； ＊ S和S‘同时照射在探测器上，则有： ED＝E1＋E1＝2E1， 并记下对应的检流计计数i2 ； ＊ 挡住S并移动S’，使表的计数达到i2 ，此时：E2＝2E1； ＊ S和S‘同时照射在探测器上，有： ED＝E1＋2E1＝3E1。 　　如此，能得到光的叠加。 　　注意事项：应用这种叠加增光时，＊要特别注意屏蔽两个光源相互反射对探测器的贡献；＊随着光源移近探测器，探测器的恒温必须考虑。＊如果视觉探测器匹配不理想，应使光源S‘的色温与光源S尽可能接近。 　　 二、光度和分光光度测量中的杂散光处理 杂散光指掺杂到被测主光束中的其它光束或掺杂到测量谱带内的其它波长的辐射。其出现的主要原因：是由于光路中的光学元件及光路侧旁的障碍物等引起光的反射、折射而造成的。在分光仪器中不同干涉级光谱的重叠也是杂散光的主要起因。由于其会给测量结果带来可观的衰减，因此，必须对杂散光问题给予重视。 1、减小杂散光影响的一般方法 设置光阑；在一般测量工作中减少主光束的杂散光影响的有效方法是合理地设置光阑； 涂黑并加大光路的壁围空间； 设置强杂散光陷阱：待测光弱于杂散光束时。 2、分光元件的杂光： 　　光栅、干涉滤光片等分光元件由于存在不同级次光谱的重叠，因此在测光带内可能存在着带外杂光（称为残余光谱）。常用的屏蔽方法是加截止滤光片。 3、单色仪的杂光问题 　　单色仪和分光光度计等以单色仪作构件的仪器的杂散光来源于多方面的因素：既有光路形成的，又常存在残余光谱的影响。 　　采用带通滤光片：当单色仪工作在短波段时，加隔长波滤光片；在长波段时，加隔短波滤光片，能较好地抑制杂散光的影响。 三、光度微弱