SiC涂层缺陷地脉冲红外热波无损检测关键技术研究.pdf

Classified Index: TB333 U.D.C: 621 Dissertation for the Doctoral Degree in Engineering RESEARCH ON THE KEY TECHNOLOGY OF SiC COATING DEFECTS DETECTION USING PULSED INFRARED THERMAL WAVE NON-DESTRUCTIVE TESTING METHOD Candidate： Tang Qingju Supervisor： Prof. Wang Yang Academic Degree Applied for： Doctor of Engineering Speciality： Aeronautics Astronautics Manu- facturing Engineering Affiliation ： School of Mechatronics Engineering Date of Defence ： May, 2014 Degree-Conferring-Institution： Harbin Institute of Technology 万方数据 摘 要 摘 要 SiC 涂层结构具有高温强度好、断裂韧性高、耐烧蚀性等优异性能，已被广泛 应用于航空、航天、内燃机、核反应堆等高温环境。SiC 涂层结构的制备工艺相对 复杂，服役环境较恶劣，易产生涂层厚度不均、涂层脱落及基体内部缺陷等，这 些均会直接危害设备可控性和运行安全性。红外热波无损检测技术具有非接触、 直观、高效等优点，为 SiC 涂层结构缺陷的检测提供了一种新方法。本文从涂层 结构脉冲红外热波检测原理分析与仿真研究、脉冲红外热波检测系统研制、检测 工艺参数选择、脉冲红外图像序列处理算法、涂层厚度均匀性检测、缺陷几何特 征识别与判定等关键技术开展了系统深入的研究。 分析了光脉冲激励涂层结构样件的热流传递过程，建立了表面温度场分布一 维解析模型，确定了涂层厚度与温度差之间的解析关系；通过仿真分析了缺陷几 何特征和检测参数对表面温度信号的影响与规律，探讨了脉冲红外热波成像检测 SiC 涂层-高温合金基体中涂层厚度不均匀性、SiC 涂层-高温合金基体内部缺陷和 SiC 涂层-C/C 复合材料基体内部缺陷的检测能力。 搭建了闪光灯脉冲激励红外热波成像无损检测系统并实现了 SiC 涂层结构缺 陷的高效、可靠检测；通过试验研究，分析了缺陷几何特征和检测参数对样件表 面温度信号影响与规律，验证了理论模型正确性，并得到了合理检测参数范围。 研究了脉冲红外图像序列处理算法（多项式拟合时间微分-相关系数法，FCA 、 脉冲相位法，PPT 和马尔科夫-主成分分析法，Markov-PCA ），对脉冲红外热图序 列进行了处理与温度信号特征提取，各种算法处理后得到特征图像提高了信噪比， 提出的Markov-PCA 法显著改善了信噪比和提高了缺陷探测能力。 开展了涂层厚度的脉冲红外热波成像检测方法研究，建立了基于表面归一化 温度分布的涂层厚度分布导热反问题，采用模拟退火算法实现了涂层厚度的反演 计算。通过对SiC 涂层-高温合金基体中涂层厚度分布脉冲红外热波成像检测研究 表明：涂层厚度在45~130μm 范围内，相比常规电涡流扫描涂层厚度测量结果，涂 层厚度最大检测误差10% 。深入