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- 2016-03-03 发布于湖北
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等离子体刻蚀—刻蚀的目的 由于在扩散过程中,即使采用背靠背的单面扩散方式,硅片的所有表面(包括边缘)都将不可避免地扩散上磷。PN结的正面所收集到的光生电子会沿着边缘扩散有磷的区域流到PN结的背面,而造成短路。此短路通道等效于降低并联电阻。 经过刻蚀工序,硅片边缘的带有的磷将会被去除干净,避免PN结短路造成并联电阻降低。 等离子体刻蚀—刻蚀原理 通常的刻蚀方法包括干法刻蚀和湿法刻蚀。 我们目前使用的刻蚀工艺就是干法刻蚀,其工作机理为: 使用等离子体进行刻蚀。采用高频辉光放电反应,使反应气体激活成活性粒子,如原子或各种游离基,这些活性粒子扩散到硅片边缘,在那里与硅进行反应,形成挥发性生成物四氟化硅而被去除。 等离子体刻蚀—常见问题 关键的工艺参数是射频功率和刻蚀时间,效果反应为有效刻蚀宽度。 刻蚀不足:电池的并联电阻会下降。 射频功率过高:等离子体中离子的能量较高会对硅片边缘造成较大的轰击损伤,导致边缘区域的电性能差从而使电池的性能下降。在结区(耗尽层)造成的损伤会使得结区复合增加。 刻蚀时间过长:刻蚀时间越长对电池片的正反面造成损伤影响越大,时间长到一定程度损伤不可避免会延伸到正面结区,即出现钻刻现象,从而导致损伤区域高复合。 射频功率太低:会使等离子体不稳定和分布不均匀,从而使某些区域刻蚀过度而某些区域刻蚀不
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