essen评分合头颅磁共振成像预测tia后1年脑梗死的风险.pdf

中文摘要 ESSEN评分结合头颅磁共振成像 l 预测TA后1年脑梗死的风险 摘 要 ischemic 目的：短暂性脑缺血发作(transient 高级预警信号。TIA反复发作可进展为脑梗死，脑梗死具有高致残率及高 死亡率。因此我们预测TIA患者发生脑梗死的风险，及早进行干预。目 前为止，国内外许多研究分别证实ESSEN评分和头颅磁共振成像能预测 TIA后脑梗死的风险。本研究首次探讨ESSEN评分结合头颅磁共振成像 对TIA后1年脑梗死风险的预测价值。通过预测TIA后脑梗死的风险， 有利于对TIA患者进行危险分层及优化治疗，防止TIA进展为梗死。 1年1月首次发病7天内就诊于河 方法：连续收集2009年9月至201 北医科大学第二医院神经内科的TIA患者为研究对象，所有患者均行头 颅磁共振检查。详细记录患者的病史、临床症状、既往史、