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(Mental Oxide Semi— FET) 1. 结构与符号 P 型衬底 (掺杂浓度低) N+ N+ 用扩散的方法 制作两个 N 区 在硅片表面生一层薄 SiO2 绝缘层 S D 用金属铝引出 源极 S 和漏极 D G 在绝缘层上喷金属铝引出栅极 G B 耗尽层 S — 源极 Source G — 栅极 Gate D — 漏极 Drain S G D B 一、 N 沟道增强型 MOSFET 场效应管 2. 工作原理 1)uGS 对导电沟道的影响 a. 当 UGS = 0 ,DS 间为两个背对背的 PN 结; b. 当 0 UGS UGS(th)(开启电压)时,GB 间的垂直电 场吸引 P 区中电子形成离子区(耗尽层); c. 当 uGS ? UGS(th) 时,衬底中电子被吸引到表面,形 成导电沟道。 uGS 越大沟电沟道越厚。 反型层 (沟道) 场效应管 2) uDS 对 iD的影响(uGS UGS(th)) DS 间的电位差使沟道呈楔形,uDS?,靠近漏极端的沟道厚度变薄。 预夹断(UGD = UGS(th)):漏极附近反型层消失。 预夹断发生之前: uDS? iD?。 预夹断发生之后:uDS? iD 不变。 场效应管 3. 转移特性曲线 2 4 6 4 3 2 1 uGS /V iD /mA UDS = 10 V UGS (th) 当 uGS UGS(th) 时: uGS = 2UGS(th) 时的 iD 值 4. 输出特性曲线 可变电阻区 uDS uGS ? UGS(th) uDS?? iD ?,直到预夹断 饱和(放大区) uDS?,iD 不变 ?uDS 加在耗尽层上,沟道电阻不变 截止区 uGS ? UGS(th) 全夹断 iD = 0 开启电压 iD /mA uDS /V uGS = 2 V 4 V 6 V 8 V 截止区 饱和区 可 变 电 阻 区 放大区 恒流区 O O 场效应管 二、 N 沟道耗尽型 MOSFET S G D B Sio2 绝缘层中掺入正离子 在 uGS = 0 时已形成沟道; 在 DS 间加正电压时形成 iD, uGS ? UGS(off) 时,全夹断。 输出特性 uGS /V iD /mA 转移特性 IDSS UGS(off) 夹断 电压 饱和漏 极电流 当 uGS ? UGS(off) 时, uDS /V iD /mA uGS = ? 4 V ? 2 V 0 V 2 V O O 场效应管 三、P 沟道 MOSFET 增强型 耗尽型 S G D B S G D B 场效应管 N 沟道增强型 S G D B iD P 沟道增强型 S G D B iD UGS(th) O uDS /V iD /mA – 2 V – 4 V – 6 V – 8 V uGS = 8 V 6 V 4 V 2 V S G D B iD N 沟道耗尽型 iD S G D B P 沟道耗尽型 UGS(off) O uDS /V iD /mA 5 V 2 V 0 V –2 V uGS = 2 V 0 V – 2 V – 5 V FET 符号、特性的比较 场效应管 N 沟道结型 S G D iD S G D iD P 沟道结型 UGS(off) O uDS /V iD /mA 5 V 2 V 0 V uGS = 0 V – 2 V – 5 V FET 符号、特性的比较 场效应管 开启电压 UGS(th)(增强型) 夹断电压 UGS(off)(耗尽型) 指 uDS = 某值,使漏极电流 iD 为某一小电流时的 uGS 值。 UGS(th) UGS(off) 2. 饱和漏极电流 IDSS 耗尽型场效应管,当 uGS = 0 时所对应的漏极电流。 3. 直流输入电阻 RGS 指漏源间短路时,栅、源间加反向电压呈现的直流电阻。 MOSFET:RGS = 109 ? 1015?? IDSS uGS /V iD /mA O 场效应管 四、MOSFET的主要参数 4. 低频跨导 gm 反映了uGS 对 iD 的控制能力, 单位 S(西门子)。一般为几毫西 (mS) uGS /V iD /mA Q PDM = uDS iD,受温度限制。 5. 漏源动态电阻 rds 6. 最大漏极功耗 PDM O 场效应管 场效应管放大电路简介 一、场效应管放大电路静态工作点的设置 1.自给偏压电路 +VDD RD C2 CS + + + uo ? C1 + ui ? RG RS G S D RD + uo ? + ui ?
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