超声检测第六章2014陆志春祥解.ppt

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超声检测第六章2014陆志春祥解.ppt

6.6.2 影响缺陷定量的因素 1、仪器及探头性能的影响 仪器垂直线性、衰减器精度、频率、探头形式、晶片尺寸、折射角大小等直接影响回波高度。 ①频率的影响 由规则反射体回波声压公式可知:超声波频率f对于大平底与平底孔回波高度的分贝差ΔB有直接影响。 f ↘ΔB ↗, f ↗ ΔB ↘,频率偏差不仅影响底波法调节灵敏度,而且影响用当量计算法对缺陷定量。 6.6 影响缺陷定位、定量的主要因素 ②衰减器精度和垂直线性影响 缺陷定量依据相对波高,相对波高用衰减器来度量,衰减器精度直接影响缺陷定量,衰减器精度低定量误差大。 采用面板曲线对缺陷定量时,仪器的垂直线性好坏影响缺陷定量精度。垂直线性差,定量误差大。 ③晶片尺寸的影响 晶片尺寸影响近场区长度和波束指向性,对定量也有一定的影响 ④探头K值的影响 声压往复透射率与入射角有关。不同K值的探头的检测灵敏度不同,K值偏差影响缺陷定量。 2、耦合与衰减的影响 ①耦合的影响 耦合剂的声阻抗和耦合层厚度对回波高度有较大的影响 当探头与试块和被检工件表面耦合状态不同,又没有进行恰当的补偿,会使定量误差增加。 2、耦合与衰减的影响 ②衰减的影响 实际工件存在材质衰减,当衰减系数较大或距离较大时,由此引起的衰减较大,如不加以考虑会影响定量精度。必要时应测定材质的衰减系数,在缺陷定量计算时加以考虑。 3、工件几何形状和尺寸的影响 工件底面形状不同,回波高度也不同,凸面会使反射波发散,回波降低,凹面会使反射波聚集,回波升高。 如: 实心圆柱工件检测 空心圆柱工件外圆检测 空心圆柱工件内圆检测 3、工件几何形状和尺寸的影响 工件底面 工件底面与检测面不平行、底面粗糙或沾有水迹、油污时,将会使底波下降,影响利用底波调节的灵敏度将偏高,缺陷定量误差增加 侧壁干涉也会使定量不准 工件尺寸也影响定量: 尺寸较小,缺陷位于3N以内时,利用底波调节灵敏度并定量,误差增加 4、缺陷的影响 ①缺陷形状的影响 缺陷形状对其回波波高有很大影响: 平面形缺陷波高与缺陷面积成正比,与波长的平方和距离的平方成反比; 球形缺陷波高与缺陷直径成正比,与波长的一次方和距离的平方成反比; 长圆柱形缺陷波高和缺陷直径的1/2次方成正比,与波长的一次方和距离的3/2次方成反比。 对于点状缺陷: 当尺寸很小时,缺陷形状对波高的影响就变得很小。 当点状缺陷直径远小于波长时,可假定为平面波入射到小缺陷引起的乱反射,缺陷波高正比于缺陷平均直径的三次方,即随缺陷大小的变化十分急剧,缺陷变小时,波高急剧下降,很容易下降到检测仪器不能检出的程度 ②缺陷方位的影响 探头型式、K值的选择时都要尽量保证声束轴线与缺陷面垂直,但实际情况是缺陷表面相对于超声波入射方向往往不垂直,对缺陷尺寸估计偏小的可能性很大。 声波垂直缺陷表面时缺陷回波最高,当有倾角时,缺陷波高随入射角的增大而急剧下降。 光滑面回波波高随入射角的变化 圆片形平面缺陷的倾斜度对缺陷波高的影响 2)缺陷自身高度的测定 横波串列式双探头法: 回波位置固定不动。 底面盲区 2)缺陷自身高度的测定 端点衍射法 :用匝门套住上下端点衍射波,读数相减即可。△H= △ DW下- △DW上 6.5 横波斜探头检测技术 6.5.3 缺陷的评定 4. 非缺陷回波测定 1)工件轮廓回波 2)端角反射波 3)探头杂波 4)表面波 5)草状回波 6)焊缝中变型波 7)“山”形波 有焊角反射波 如有裂纹时混在一起 无焊角反射波 如有裂纹时才显示 6.5 横波斜探头检测技术 焊缝中变型波: 前提:αs<αⅢ 6.6 影响缺陷定位、定量的主要因素 影 响 缺 陷 回 波 的 因 素 工 件 耦 合 仪器和探头 缺 陷 定位 定量 仪 器 发射条件 抑制电路 接收条件 水平线性 垂直线性 探头 探头与仪器组合 灵敏度 盲区 分辨率 耦合剂种类 耦合层厚度 粗糙度 形状 形 状 取 向 表面粗糙度 性 质 尺 寸 埋藏深度 组 织 表面形状 表面粗糙度 温度 探测面 干 涉 散 射 散射 应力致折射 6.6 影响缺陷定位、定量的主要因素 6.6.1 影响缺陷定位的主要因素 1、仪器的影响 2、探头的影响 制作工艺不同,同样参数的探头其性能也有差异,探头的频率、频谱不同会对探头声场产生影响也对信噪比、分辨力有明显影响,不同探头检测同一工件时,可能会有不同的结果。

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