原子吸收与原子荧光光谱法详解.pptVIP

氢化物发生法特点： 产生氢化物与基体元素分离，消除基体效应 具有预富集和浓缩的效能，进样效率高； 易于实现自动化； 可以进行元素价态分析； 无法分析不能形成氢化物或挥发性化合物的元素； 氢化物发生法存在液相和气相等干扰。 AFS特点： 较低的检出限、较高的灵敏度、较少的干扰、吸收谱线与发射谱线比较单一、标准曲线的线性范围宽(3~5个数量级)； 仪器结构简单且价格便宜，由于原子荧光是向空间各个方向发射，比较容易设计多元素同时分析的多通道原子荧光分光光度计； 定量分析主要采用标准曲线法，也可以采用标准加入法。 4.5.3 分析应用 图4-11 石墨炉原子化器结构示意图 内保护气：带走基体蒸气；保护已经原子化了的原子不被氧化。 (2) 石墨炉原子化法的升温程序： 干燥（除去溶剂和水分，稍高于溶剂沸点，一般20~60s） 灰化（除去易挥发的基体物质） 原子化（一般为2~5s） 除残（避免记忆效应） 图4-12 石墨炉原子化法升温程序示意图 (3) 基体改进技术（matrix modifier） 改善基体物理特性 改善原子化过程 (4) 石墨炉原子化法的特点 可达3500℃高温，且升温速度快； 绝对灵敏度高，一般元素的可达10-9~10-12 g； 可分析70多种金属和类金属元素； 所用样品量少(1~100 μL)； 但是石墨炉原子化法的分析速度较慢，分析成本高，背景吸收、光辐射和基体干扰比较大。 3. 低温原子化法 (1) 冷原子化法（cold atomization） Hg2+ + Sn2+ ? Sn4+ + Hg (2) 氢化物发生法（hydride generation method，HGAAS） 4.2.3 原子吸收分光光度计的性能指标 光学系统的波长显示值误差（以Cu、Mg、Ca灯检验，±0.2nm）； 光学系统分辨率（以Mn双线检验）； 基线稳定性； 吸收灵敏度（S1%，产生1%吸收时对应的元素含量，也称特征浓度）； 精密度，RSD3%（FAAS）或5%（GFAAS）； 检出限； （mg/L/1%） （mg/1%） 特征质量 FAAS GFAAS 特征浓度S1%：产生1%吸收时对应的元素含量 4.3 干扰及其消除 4.3.1 物理干扰及其消除方法 1. 物理干扰（physical interference） 由于样品物理性质变化而引起吸收信号强度变化，属于非选择性干扰。 （负干扰） 2. 减小或消除方法 (1) 配制基体一致的标准溶液； (2) 标准加入法； (3) 稀释法（被测元素浓度较高）。 4.3.2 化学干扰及其消除方法 1. 化学干扰（chemical interference） 由于被测元素与基体组分发生化学反应影响蒸发、解离和原子化过程，属于选择性干扰。（通常为负干扰） 2. 减小或消除方法 (1) 改变火焰类型； (2) 改变火焰特性； (3) 加入释放剂； (4) 加入保护剂； (5) 加入缓冲剂； (6) 采用标准加入法。 4.3.3 电离干扰及其消除方法 1. 电离干扰（ionization interference） 由于易电离元素电离，使参与原子吸收的基态原子数减少。（负干扰） 2. 减小或消除方法 (1) 加入消电离剂； (2) 采用低温火焰； (3) 标准加入法； (4) 提高金属离子总浓度。 4.3.4 光谱干扰及其消除方法 1. 光谱干扰（spectral interference） 包括光谱通带内存在的谱线干扰以及背景吸收产生的干扰。 2. 减小或消除谱线干扰的方法 (1) 减小狭缝； (2) 选择其它分析线； (3) 预先分离干扰元素。 3. 减少或消除直流发射干扰：光源调制。 4. 减小或消除非吸收线光谱干扰：减小狭缝，减小灯电流。 4.3.5 背景吸收与校正 （background absorption and correction） 1. 分子吸收与光散射 均产生正误差。 2. 背景校正技术 (1) 氘灯背景校正技术 仅适用于紫外区 (2) Zeeman（塞曼）效应背景校正技术（GFAAS必须采用） 正向Zeeman效应扣背景 反向Zeeman效应扣背景 交变磁场调制 恒定磁场调制 图4-15 反向Zeeman效应背景校正技术原理示意图 4.4 原子吸收光谱法分析 4.4.1 仪器操作条件的选择 HCL电流选择：保证足够光强且稳定条件下尽量使用较低的工作电流。 吸收谱线选择：最灵敏线，除非有其它谱线干扰或待测元素含量较高可选用其它谱线。 光谱通带选择：不引起吸光度减小的最大狭缝宽度。 进样量的选择。 4.4.2 火焰原子化法最佳条件选择 1. 火焰的类型与特性选择 2. 燃烧器高度的选择 3. 火焰原子化器吸喷速率 4.4.3