1. X射线的产生和性质 1.1 导论 1.2 X射线的产生 1.3 X射线的性质2. X射线技术和应用 2.1 X射线衍射(XRD) 2.1 EXAFS,XANES 2.3 X射线形貌(XRT) 2.4 X射线成像(XRI) 2.5 X射线小角散(XRS) 2.6 X射线光刻(XRL) 2.7X射线荧光(XRF) 3. 结束语:X射线实验系列化研究 1. X射线的产生和性质 1.1 导论 1.2 X射线的产生 1.3 X射线的性质 1.2 X射线产生 固体靶源 同步辐射 等离子体源 同位素 核反应 其他 谱 (Kramer Law) 几种源的谱比较 X射线光学 (3)毛细管X射线透镜 (4)X射线波带板 X射线探测器 正比计数器** NaI(Tl)闪烁探测器** Si(Li)探测器** Ge(Li)探测器 Si PIN探测器** Ge PIN探测器** 多(单)丝室 X射线CCD 微多道板 G-M计数管 电离室 胶片,荧光屏 2· X射线技术及应用 2.1 X射线衍射(XRD) 2.2 EXAFS,XANES 2.3 X射线形貌(XRT) 2.4 X射线成像(XRI) 2.5 X射线小角散(XRS) 2.6 X射线光刻(XRL) 2.7 X射线荧光(XRF) 2.1 X射线衍射(XRD)(1) Debye 法 同步辐射(SR)XRD装置 (BSRF) 纳米微晶Fe的X射线衍射 (2)Laue 法 蛋白质的Laue衍射图 2.2 扩展的X射线吸收边(EXAFS) 2.3 X射线形貌 (白光形貌和双晶形貌) X射线形貌图 2.4 X射线成像 层析术(吸收) 显微术(吸收) 全息术(衍射) 减法造影(吸收) 其它 扫描X射线显微镜装置 X射线显微术实验站 显微图 兔耳造影 (注入BaFBr) 2.5 X射线小角散射 2.6 X射线光刻 SR X射线光刻装置(XRL) X射线抗蚀剂 - 分类 光抗蚀剂 X射线抗蚀剂 电子束抗蚀剂 有机抗蚀剂 无机抗蚀剂 单组分 两组分 三组分 正性抗蚀剂 PMMA (poly(methyl methacrylate)) - 聚甲基丙烯酸甲酯, AZ1350J, RAY-PF 负性抗蚀剂 EPB, COP, SAR, RAY-PN - 光化学原理 单组分: -2c 3c(双组分和三组分抗蚀剂) - 特性 灵敏度?和衬度? - 分辨率 X射线掩膜 掩膜 X射线光刻机(Stepper) 抗蚀剂图形 抗蚀剂图形 LIGA 技术 (Lithographie, Galvanoformung, Abformung) 制作三维立体微结构元件 X射线光刻技术 极大高宽比抗蚀剂图形 LIGA技术使得构造任意形状侧面的微结构集成系统 结构的尺度可达几百?m 总体精确度可保证在?m和亚?m量级 使用的材料可以是金属,塑料,陶瓷以及它们的组合 LIGA技术的应用范围复盖各种不同技术领域 范围: 微型机械,显微光学,集成光学,传感器和执行机构以及化学医药和生物技术 特点: LIGA技术使微机械元件,微光学元件,微传感器以及微电子学可以集成在单芯片上形成微集成系统,这可以极大地减小整个系统的体积,降低功耗,提高执行速度,对高技术发展和军事工业具有巨大的吸引力。 工艺过程 第一步 (X-ray Lithography) 同步辐射X射线通过掩摸辐照到涂在电镀基底上的厚抗蚀剂上进行曝光, 然后对曝光的抗蚀剂显影,形成抗蚀剂图形 第二步(Electroform Mould) 进行电铸,去掉电镀基底和作为图形的抗蚀剂,得到一金属微结构型版 第三步( Electroform structures) 是一个回流铸塑高分子材料过程,即在导电塑料基底上形成电绝缘结构。最后通过电铸做成金属结构元件 LIGA技术工艺过程(2) 2.7 X射线荧光 -元素分析 同步辐射X射线荧光(SR-XRF) 分析用于环境的监测和净化 Ka, b La, b (2)质子,光子和电子激发的XRF谱 (3)荧光产额 (4)荧光线系 (5)荧光光谱 固体靶XRF装置 近期实验方法的一些进展?a)高原子序数(Rh后面的元素)元素的探测?? 第三代同步辐射源提供更强的硬X射线 探测器改用测量范围达到60keV的Ge探测器? a)分析方法 b)南极生态环境 c)淮河流域(中下游)污染状态 d)青岛海域污染变化 e)矿山污染监测 f)金鱼藻Fe/Mn峰强比 :富营养污染度标识 g)植物元素富集特性 a)分析方法 逃逸峰 - 实验结果(植物叶,CoCl2) - 逃逸峰计算结果 主峰 / 和峰的理论值与实
原创力文档

文档评论(0)