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实 验 力 学 李东平 教授 中南大学土木工程学院力学系 绪 论 随着科学技术的发展,需对复杂载荷作用下的复杂结构进行应力、应变分析,以解决工程强度问题。有两种不同的分析方法: 理论分析法:建立力学模型,并进行(近似)数值计算,如有限单元法。 实验分析法:利用模型或实体进行实验研究。 这两种方法是解决工程强度问题的两种不同途径,二者相辅相成、相互促进。 第一篇 电阻应变测量法 2-2 应变片分类与选用 2-4 应变片的粘结剂选用和粘贴工艺 第三章 测量电桥的特性及应用 使用应变片测量应变时,必须用适当的方法检测其阻值的微小变化。应变片感受的机械应变量一般为10-6~10-2,电阻变化率也在10-6~10-12数量级之间。这样小的电阻变化用一般电阻仪很难测量出,需要采用测量电路将微电阻变化率转换成电压或电流的变化,才能用仪表记录或显示出来。最理想的测量电路是惠斯登电桥。 测量电路要求满足以下两个方面的要求: l、足够的灵敏度 2、足够的准确度 3-1 直流电桥的基本原理 3-2 温度变化效应的补偿 3-3 应变片在电桥中的接法和在构件上的布置 第四章 电阻应变仪与记录仪 4-3 电阻应变仪的性能及其检验 4-4 记录显示仪器 4-5 数字应变测量系统及数据采集系统 第五章 静态应变测量 5-2 平面应变状态测量 5-3 静态应变测量实验中的若干技术问题 5-4 测量中的常见故障及处理方法 第六章 动态应变测量 6-2 应变片的动态响应特性 6-3 动态应变测量系统 6-4 动态应变测量过程及常见故障 第二篇 光弹性应力分析 8-1 基本光学知识和主要的光学元件 8-2 应力-光学定律 8-3 平面偏振光场的光弹性效应 8-4 圆偏振光场的光弹性效应 第九章 平面光弹性实验方法和结果分析 9-2 光弹性材料条纹值的确定 9-3 边界压力的确定 9-4 应力集中系数的测定 第十章 光力学的其他方法 10-2 云纹干涉法 实 验 二、主要的光学元件 1、偏振片 平面偏振光通常是通过偏振片产生的,偏振片只允许光波振动方向和偏振轴一致的光矢量通过,而垂直于偏振轴方向振动的光矢量或光矢量的分量则被偏振片所吸收或阻挡。因此,当一束自然光通过偏振片以后,便可以获得和偏振轴方向一致的平面偏振光。 如果在传播轴上放上第二个偏振片,并使其偏振轴和第一个偏振片的偏振轴相垂直,则平面偏振光Ay便不能通过,而出现消光现象,这种光场称为暗场,如图8-6(a)所示。如果将第二个偏振片的偏振轴旋转90°,则可获得亮的光场,即明场,如图8-6(b)所示。为区分起见,第一个偏振片称为起偏镜P,第二个偏振片则称为检偏镜A,由光源和两块偏振镜组成平面偏振仪。偏振片通常用透明聚乙烯醇塑料在碘内浸渍后加热并拉伸制成。 起偏镜 检偏镜 P A P A 消光 透光 平面偏振场 单色光源 (a) 暗场 (b) 明场 图8-6 平面偏振场 2、1/4波片 某些晶体(如方解石、云母)具有光学各向异性的双折射特性。当光线法向入射该晶体时,光波将分解为两束相互垂直的平面偏振光,并以不同的速度在晶体内传播,因而当这束平面偏振光离开晶体时,便产生光程差Δ,如图8-7所示。光程差的大小与晶体的厚度t有关。我们可以适当地选择晶体片的厚度t,使它产生的光程差正好等于使用单色光的1/4波长。这种产生1/4波长光程差的晶体片被称为1/4波片。1/4波片是获得圆偏振光的重要光学元件。该波片通常用云母制造,也可以用非晶体材料,例如玻璃、赛璐珞等加工制造。 当一束平面偏振光的偏振方向和1/4波片的主轴成45°(图8-8),这束平面偏振光透过1/4波片以后,便成为圆偏振光。令光矢量A代表入射的平面偏振光,它和l/4波片的快轴F和慢轴S成45°。为简单起见,A可以表示为 Δ t Af As 45° 45° 慢轴 快轴 As Af A 图8-7 光程差 图8-8 圆偏振光的产生 当A进入l/4波片以后将分解为Af 、As 两个平面偏振光,即 当Af 、 As离开1/4波片时,由于As落后Af一个光程差λ/4,即位相差π/2。则 Af和As可改写为下式 显然 和 合成的光矢量端点的轨迹为一圆。 由上述分析可知:只要使一个偏振片的偏振轴和一个1/4波片的光轴成45°。当一束自然光透过偏振片,再透过l/4波片,便可获得圆偏
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