光电检测技术第五章分析报告.ppt

发光二极管LED调制 LED调制特点： 半导体发光二极管由于不是阈值器件，它的输出光功率不像半导体激光器那样会随注入电流的变化而发生突变 可见发光二极管的P-I特性曲线线性范围较大 在数字光纤通信系统中，因为它不能获得很高的调制速率（最高只能达到100Mb/s）而受到限制 2．半导体光源的模拟调制 LD： LED： 注意事项： 应选择合适的m值，在输出信号幅度与线性度间权衡 在线性要求较高的应用场合中，需要进行非线性补偿，即用电子技术来校正光源引起的非线性失真 3．半导体光源的脉冲编码数字调制 优点： 数字信号在信道上传输过程中的噪声和失真可采用间接中继器的方式滤掉，抗干扰能力强 对数字光纤通信系统的线性要求不高，可充分利用光源（LD）的发光功率； 便于与数字终端连接 三、调制信号的解调 解调是指将被测信息从调制信号中分离出来的过程。 由于调制是一个非线性过程，因此解调必须用非线性元件 光束解调的定义 解调方法 光学方法 电子方法 二极管检波 晶体管峰值检波 相敏检波 干涉场解调 光电器件解调 VD U i R C U 0 调幅信号二极管检波电路 1.调幅信号的解调 利用二极管单向导通特性实现检波 Ui： 输入信号 KD：比例因子 a ) 解调波形图 U0 UD Ui c ) b ) t t t b ) U Ui 乘法器 Uc a ) U0 滤波器 ’ Ω 2ω-Ω 2ω 2ω-Ω ω 2.调相信号解调与相敏检波 相敏检波常用电路： 乘法器检波电路 开关式相敏检波电路 相加式检波电路 脉冲钳位式相敏检波电路等 对于相位调制的载波信号，载波和参考信号间的相位随被检测信息改变，解调需用相敏检波 为高频项，可用低通滤波器滤除 第三节 光扫描测量技术 扫描系统分类 扫描方式 扫描方法 直线扫描 圆周扫描 螺旋扫描 光栅扫描 随机扫描 机械扫描 光学扫描 电子束扫描 电光扫描 磁光扫描 声光扫描 电子机械扫描 移位电场扫描 衍射光栅扫描 1. 扫描系统分类 2. 扫描工作参数 扫描的工作参数： 扫描周期、扫描线密度、扫描线性度和动态范围、信道频带宽度、扫描数据率、扫描分辨力、扫描精度等 扫描分辨力是指扫描系统分辨图像细节信息的能力，用单位长度内可能分辨的最高黑白线对数来表示，它主要由扫描线的孔径光阑和信道通频带所决定 扫描精度是指时序电信号和空间光强的对应关系或者时序电信号和时空位置的对应关系不失真程度。 扫描轨迹几何形状畸变、扫描运动不均匀，会造成扫描非线性畸变，从而造成几何失真。而光电变换、电光变换、光度变换的非线性会造成灰度失真。 机械扫描装置示意图 入射光束 扫描光束 反射镜 3. 扫描方法 （1）机械扫描 机械扫描技术是利用反射镜或棱镜等光学元件的旋转或振动实改变光束的方向实现扫描。 机械扫描方法扫描速度慢，但是扫描角度比较大且受温度影响小，光能的损耗小，适用于各种光波的扫描 （2）电光扫描 电光扫描原理图 B d x A L y B 光束的偏转方向 A θ 入射光波 出射光波 电光晶体的折射率n n0是x = 0（晶体下面）的折射率 是在厚度d上折射率的变化量 A光线相对于B光线要滞后的距离 光波到达晶体出射面时，其光波的波阵面相对于传播轴线偏转了一个微小角度 结合折射定律 入射光 E x z y 双 KDP 楔形棱镜扫描器 θ 双电光晶体（KDP）楔形棱镜扫描装置 晶体排布规则： 两块电光晶体的z轴方向相反，其它两个轴的方向相同 电场沿z轴方向； 光线沿y方向传播且沿x方向偏振 缺点：偏转角非常小，很难达到实用的要求 n - n h 多级棱镜扫描器 n - △ n n + △ n n + △ n θ x y △ β 多级棱镜扫描器 晶体排布规则： z轴垂直于图面 电场沿z轴方向； 棱镜的宽度与z轴平行 前后相邻的棱镜的光轴反向 （2）电子束扫描 光点 聚光镜 输出 光电检测器 底片（被测对象） 飞点扫描装置示意图 扫描电子束管的飞点扫描法 多元探测器的扫描法 把所要输入的图像分解成许多像点的组合，按每个点排列的信息由电子开关或机械开关依次取出，然后被放大并传送到图像显示器上，于是在成像平面上出现一个随时间变化的信息分布图。 并联扫描时用一列探测器平行扫描图像或景物。 探测器线列 延迟线 放大器 列阵探测器串联扫描示意图 串联扫描是探测器列阵置于扫描方向，图像或景物上的每一个点将先后由列阵探测器的每一个光敏元素一次扫描 优点： 加强了可利用的信息，信噪比可以提高n倍（n为列阵探测器的元素数） 并联扫描方式 串联扫描方式 探测器元素数几乎不受限制 探测器元素数有限制 扫描无效时间短 扫描无效时间长 限制电路系统带宽 带宽范围大 可进行多行跳跃扫描 不能 扫描结构简单 由于扫描速度高，结构复杂 电路信号处理