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第10章存储器层次结构
第10章 存储器层次结构
一、单项选择题
【例10-1】动态存储器DRAM的刷新原则是( )。
A.各DRAM芯片轮流刷新
B.各DRAM芯片同时刷新,片内逐位刷新
C.各DRAM芯片同时刷新,片内逐字刷新
D.各DRAM芯片同时刷新,片内逐行刷新
【例10-2】某一SRAM芯片,容量为1024×8位,除地址线和电源端外,芯片最少引出线数为( )。
A.16 B.17 C.20 D.21
【例10-3】动态RAM利用( )。
门电路存储信息 B.寄存器存储信息
C.电容存储信息 D.触发器存储信息
【例10-4】利用4片8K×4位存储芯片,可构成容量为( )存储器。
A.32K×16位 B.8K×8位 C.16K×8位 D.16K×16位
【例10-5】下列存储设备中,( )的存取数据速度最快。
A.RAM B.磁盘 C.光盘 D.硬盘
【例10-6】在Cache和主存构成的两级存储体系中,Cache的存取时间是100ns,主存的存取时间是1000ns,如果希望有效(平均)存取时间不超过Cache存取时间的15%,则Cache的命中率至少为( )。
A.90% B.98% C.95% D.99%
【例10-7】Cache用组相联映射,一块大小为128字节,Cache共64块,4块分一组。主存有4096块,主存地址共需( )位。
A.19 B.18 C.17 D.16
【例10-8】8片16K×4的存储器可以设计为( )存储容量的16位存储器。
A.32K B.64K C.16K D.128K
【例10-9】下列( )不是主存与Cache间常用的地址映像方式。
A.直接映像 B.全相应映像 C.组相联映像 D.直接相连映像
【例10-10】若片选地址为101时,选定某一32K×16位的存储芯片工作,则该芯片在存储器中的首地址和末地址分别为( )。
A.00000H;01000H B.28000H;2FFFFH
C.2800H;2FFFH D.0000H;0100H
【例10-11】双端口存储器和多模块交叉存储器属于必行存储器结构,前者和后者采用的技术分别是( )。
A.空间并行;时间并行 B.时间并行;空间并行
C.空间并行;空间与时间共同并行 D.空间与时间共同并行;时间并行
【例10-12】关于MOS半导体存储器,下列说法正确的是( )。
A.静态MOS存储器需要刷新
B.动态MOS存储器需要刷新
C.静态MOS存储器和动态MOS存储器都需要刷新
D.静态MOS存储器和动态MOS存储器都不需要刷新
【例10-13】磁表面存储器的记录方式可为四种,则磁盘存储器采用( )方式。
A.归零制 B.不归零制 C.调相制 D.调频制
【例10-14】DRAM之所以刷新是因为( )。
A.DRAM上存储信息陈旧,需要更新信息
B.电容上的电荷会泄露,需要定时补充电荷
C.人们需要刷新来保持存储信息的及时性
D.DRAM不需要刷新
【例10-15】高速缓冲存储器的配置是为了解决( )之间的速度差异。
A.CPU与外存 B.主存与外存
C.CPU与主存 D.CPU与存储器
【例10-16】在组相联映像的Cache中,用于判断命中与否的标志是( )。
A.块表存储器中读出来字的区号、块号与主存地址中相应的区号、块号不相等
B.块表存储器中读出来字的区号与主存地址中相应的区号相等
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