半导体集成电路低压差分信号接口电路测试方法（编制说明）.docVIP

国家标准《半导体低压差分接口电路通用测试方法》 (征求意见稿主要工作过程SJ/T 10741-2000半导体集成电路CMOS电路测试方法标准编制原则和主要内容半导体集成电路CMOS电路测试方法的基本原理SJ/T 10741-2000半导体集成电路CMOS电路测试方法SJ/T 10741-2000半导体集成电路CMOS电路测试方法 参考SJ中5.的测试方法 输入低电平电压VIL 参考SJ中5.的测试方法 输出高电平电压VOH 参考SJ中5.的测试方法参考SJ中5.的测试方法参考SJ中5.的测试方法参考SJ中5.的测试方法参考SJ中5.的测试方法参考SJ中5.的测试方法参考SJ中5.的测试方法参考SJ中5.的测试方法参考SJ中5.的测试方法SJ _T10741-2000中5.的测试方法参考SJ中5.的测试方法参考SJ中5.的测试方法参考SJ中5.的测试方法SJ _T10741-2000中5.的测试方法参考SJ中5.的测试方法SJ _T10741-2000中5.的测试方法参考SJ中5.的测试方法参考SJ中5.的测试方法参考SJ中5.的测试方法SJ _T10741-2000中5.的测试方法参考SJ中5.的测试方法SJ _T10741-2000中5.的测试方法参考SJ中5.的测试方法参考SJ中5.的测试方法SJ _T10741-2000中5.的测试方法参考SJ中5.的测试方法参考SJ中5.的测试方法参考SJ中5.的测试方法参考SJ中.6“输出由低电平到高电平传输延迟时间”的测试方法参考SJ中.7“输出由高电平到低电平传输延迟时间”的测试方法参考SJ中.7“输出由低电平到高电平传输延迟时间”的测试方法 图一（眼图） 图二（眼高） 眼图宽度eW （Eye Width） 眼宽代表了眼睛张开的宽度，（图三）3sigma之间表示眼宽。 图三（眼宽） 输出确定性抖动Dj (Deterministic Jitter) 抖动是对时域变化的结果，他从本质上描述了信号周期距离其理想值偏离了多少，通常可以用（图四）来描述。确定性抖动可能是别的干扰信号造成的，这种抖动通常幅度有限，衡量它的参数是峰峰值Pk-Pk。可借助示波器抖动测量工具，分离出确定性抖动，直接读取。 图四（抖动） 输出随机抖动Rj (Random Jitter,rms值) 随机抖动是指由较难预测的因素导致的时序变化，随机抖动的统计分布是正态（高斯）分布，所以抖动事无边界的，随机抖动的峰峰值随着测量时间的变长而增加，衡量它的参数是RMS（均方差）例如影响半导体晶体的材料迁移率的温度因素，就可能造成载流子的随机变化，另外半导体的加工工艺如掺杂密度不均匀也可造成抖动。可借助示波器抖动测量工具，分离出随机抖动直接 读取。 输出总抖动Jt (Total Jitter) 输出总抖动就等于输出确定性抖动 + 输出随机抖动之和。 Jt=Rj + Dj 3 主要试验（或验证）情况分析 4 知识产权说明 不涉及专利及知识产权。 5 产业化情况、推广应用论证和预期达到的经济效果等情况 6 采用国际标准和国外先进标准情况 7 与现行相关法律、法规、规章及相关标准的协调性 本标准不存在与相关法律法规相抵触之处，也不与其他标准相冲突。 8 重大分歧意见的处理经过和依据 9 标准性质的建议说明 本标准为推荐性标准。 10 贯彻标准的要求和措施建议 标准发布实施后，建议组织标准宣贯会。 11 替代或废止现行相关标准的建议 无 12 其他应予说明的事项 无 《半导体低压差分接口电路通用测试方法》标准编制组 2016-04-01