宏观应力的测定要点.ppt

1、X射线衍射仪法测量应力几何关系 §6.4、宏观应力测定方法 ψ 当改变ψ角时，主应力（σ1＋σ2）对σφ的贡献恒定不变； 应变量εψ 只与sin2ψ 呈线性关系。 则 求sin2ψ偏导： 又由于 εψ 的测定是通过测定2θ来实现的，将它与2θ联系起来，由布拉格方程的微分形式得： 代入 (在晶格常数精确测定一章推导过上式） 代入 得 π/180是将2θ的度单位换成弧度以后加入的，当反射面（hkl)和入射波长λ一定时，式中 为常数，将其定为应力常数K1，上式就成为直线形式，斜率 定义为M，则σφ＝K1M 通常有两种方法测定M： 1、取ψ＝0°和45°分别测量2θψ，从而求得0°—45°法； 2、取ψ＝0°、15 °、30 °和45°分别测量2θψ，从而求M值，称为sin2ψ法 （1） 0～45 °法 C、计算M值 E、计算σφ值 D、计算K1值 σφ=K1·M (2) sin2ψ 法 X射线先后从几个不同的 ψ 角入射，并分别测定各自的2θψ 角，如ψ＝0°、15 °、30 °和45°及2θ0、2θ15、2θ30、2θ45，根据测试结果作2θψ~sin2ψ的关系图。 将各个测试值连成直线，并用最小二乘求斜率M，将M代入 σφ＝K1M ，即可求得应力σφ 。 若ψ＝0°、15 °、30 °和45°及2θ0、2θ15、2θ30、2θ45，分别为ψi及（2θ ψ）i i＝1，2，3，4，按最小二乘法处理数据，则得 n为测量点数 2、应力仪衍射几何 其中：η＝（π/2－θ） 用应力仪0°－45°法测量应力计算公式： 6.7 影响测量精度的因素（自学） 一、试样表面 二、辐射的选择 三、吸收因子和角因子的校正 四、衍射峰位置的确定 四、衍射峰位置的确定 常用半高法和抛物线法 1、半高法 2、抛物线法 三点抛物线法： 抛物线方程：(x-h)2=P(y-k) P为常数 h和k是顶点的横坐标和纵坐标 将I=y,2θ＝x,2 θm=h,Im=k代入上式得： （2 θ－ 2 θm）2＝P（I-Im) 将实验点代入上式： △2θ＝2 θ2－2 θ1＝2 θ3－2 θ2 a=I2-I1, b=I2-I3 3、切线法 6.8 X射线宏观应力的测定举例 采用CoKaX射线测a－黄铜的宏观残余应力，测量（400）面衍射角，测量结果为： Ψ° 0 45 2θ ψ 151.00 150.67 用0 ° －45 °法计算应力σφ。已知a－黄铜的E＝9×109Pa，ν＝0.35 用0 ° －45 °法 σφ=K1×M =-209.4×（－0.66)=138.204MPa/° 作业 P107 3题 思考题 学习了本课程以后，总结X射线衍射技术有哪些应用？ X射线衍射技术： 进行物相的定性和定量分析 点阵常数的精确测定 还可以测定材料晶粒大小、 测量宏观内应力 X射线其它应用 X射线衍射仪还可以测定钢中晶体取向(织构如丝织构、板织构） 能谱仪就是利用X射线信号进行成分分析 第六章 宏观应力的测定 主要内容 6.1、 残余应力的种类 6.2、 X射线测定宏观残余应力的特点 6.3、 X射线宏观残余应力测定原理 6.4、 宏观应力测定方法 6.5、 用最小二乘法求“2θ－sin2ψ” 6.6、 0～45 °法 6.7、 例题 6.1 残余应力的种类 根据内应力作用范围不同分为三类： 第一类残余应力又称宏观残余应力： 在晶体材料中许许多多晶粒范围之内存在并保持平衡的应力（或宏观体积内存在并平衡的内应力），此类应力的释放，会使物体的宏观体积或形状发生变化。 金属零件在热处理、表面处理、塑性变形加工等各种冷加工或在切削、装配、铸造、焊接等加工工艺以后都会产生此类残余应力。此类应力对疲劳强度、抗蚀性、相变、硬度、磁性、电阻等均有影响。 第二类残余应力又称微观内应力：在几个晶粒的范围内存在并平衡的内应力，其衍射效应主要是引起线形的变化。 材料在变形加工以后，晶粒内部产生滑移，变形等，晶格将产生弹性的弯曲、扭转等从而造成内应力。 第三类内应力又称为超微观内应力： 存在于晶粒内的几百或几千个原子范围内存在并平衡的应力，如各种晶体缺陷（空位、间隙原子、位错等）周围的应力场。此类应力的存在使衍射强度降低。 通常把第二类和第三类应力称“微观应力”。 三类残余应力分布示意图 三类残余应力都存在时，衍射线将位移、变宽和强度下降。 宏观残余