超声检测.重点分析.pptVIP

脉冲反射法的缺点 1)单探头检测往往在试件上留有一定盲区。 2)由于探头的近场效应，故不适用于薄壁试件和近表面缺陷。 3)缺陷波大小与被检缺陷取向关系密切，容易发生漏检。 4)因声波往返传播，故不适用于衰减太大的材料。 液浸法 液浸法是在探头与试件之间填充一定厚度的液体介质作耦合剂，声波先经过液体介质，再入射到试件中，探头与试件并不直接接触，从而克服了直接接触法的缺点。液浸法中，探头角度可任意调整，声波的发射、接收也比较稳定，大大提高了检测速度。 缺点是当耦合层较厚时，声能损失较大。另外，自动化检测还需要相应的辅助设备，有时是复杂的机械设备和电子设备，它们对单一产品(或几种产品)往往具有很高的检测能力，但缺乏灵活性。 当量法 当量法是以圆形平底孔试块为基准，同时先假设试块和锻件的测试条件基本相当，将缺陷的回波声压和与试块的回波声压来进行当量对比，若二者的反射回波声压相等，则认为该人工缺陷与实际缺陷是同当量的。一般实际缺陷比当量缺陷大3－5倍。 ?大型锻件中缺陷检测 对锻件中缺陷长度的定量常采用连续移动探头检测法，此法的检测精度与超声波波束和缺陷的相互指向性有关，当声束轴线垂直于缺陷的反射面时，荧光屏上将可以获得最高的缺陷反射波。若移动探头，使声束轴线逐渐偏离缺陷，反射波幅则逐渐降低。当波幅下降为最高波幅的二分之一时，声束轴线所指的位置即为缺陷的边缘，两个边缘之间的距离，即所谓被测缺陷的长度。 ?铸件缺陷的检测 铸件内部组织极大、致密性差，与锻件相比，对超声波的衰减大，穿透性亦较差。超声波在极大的晶粒界面上会发生杂乱的晶界反射，使声能遭到严重的衰减，检测频率越高，衰减越大，由晶界反射产生的杂波干扰越严重，因此，在铸铁件检测时，一般选用较低的超声波频率，如0.5—2MHz，检测灵敏度较低，只能检出面积较大的缺陷。鉴于铸钢件的穿透性比铸铁件要好，所以可选用2—5MHz的检测频率。 小型压力容器壳体是由低碳不锈钢锻造成形的，经机械加工后成半球壳状。对此类锻件进行超声检测，通常以斜探头横波检测为主，辅以表面波探头检测表面缺陷。对于壁厚3mm以下的薄壁壳体只用表面法检测。 ?小型压力容器壳体的检测 探伤前必须将探头楔块磨制成与工件相同曲率的球面，以利于声耦合，但磨制后，超声波束不能带杂波。通常使用易于磨制的塑料外壳环氧树脂小型K值探头，K选1.5一2，频率2.5-5MHz。 ?焊缝缺陷的检测 缺陷有气孔、夹渣、未熔合、未焊透和焊接裂纹 焊缝探伤主要用横波斜探头。探测频率通常为2．5—5MHz，应主要依据工件厚度进行探头角度的选择。发现缺陷后，即可对其进行定位计算，计算时可以使用探头折射角的正弦和余弦，也可使用正切值，它等于探头入射点至缺陷的水平距离与缺陷至工件表向垂直距离之比。 ?非金属检测 超声波在非金属材料(塑料、有机玻璃、陶瓷、橡胶、混凝土等)中的衰减一般都比金属大。为减少声能衰减，多采用低频率检测，一般为20－200kHz，也有的用2—5MHz，为了获得较窄的声束，常采用尺寸较大的探头。 塑料零件的探测一般采用纵波脉冲反射法，探测频率0．5—1MHz。 瓷材料可用0．5—2MHz的纵波和横波探测。 橡胶检测频率更低，可用穿透法检测。 介质中声速测量 厚度测量 材料衰减系数测量 液位测量 流量测量 温度测量 硬度、浓度、粘度测量 ?超声波其他用途 作业 对比超声波探头的种类和结构 第三讲 超声波检测 对应教材内容： 1.5 超声波检测方法 1.6 超声场检测技术应用 超声检测中使用的超声波探头，其主要部件是用压电材料做的压电晶片，在压电晶片的两表面涂有导电银层作为电极，从而晶片表面上各点部具有相同的电位。 将晶片接于高频电源时，晶片两面便以相同的相位产生拉伸或压缩效应，发射超声波的晶片如活塞作往复运动一样辐射出声能。 圆形压电晶片声场 晶片大小、振动频率和传播介质不同，声场中声压和声能产生不同的分布状况。 圆形活塞声源轴线上的声压是声程x的正弦函数。由于正弦函数最大值为1，所以声压最大值为2p；正弦函数最小值为0，声压最小值也为0。 最后一个声压最大值至声源的距离N称为近场长度。在声场中，称x＜N的区域为声源的近场区。在声场中，x＞N时的区域为远场区。在远场区，声压随距离增加而减小。 近场区、远场区和指向性 在近场区内，由于声源表面上各点辐射至被考察点的波程差大，所引起的声压振幅差和相位差也大，且它们彼此互相干涉，结果使近场区的声压分布十分复杂，出现很多极大值与极小值，因此在近场区内如有缺陷存在，其反射