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超声检测方法分类与特点 主要内容 按检测原理分类 按显示方式分类 按波型分类 按探头数量分类 按接触方式分类 超声检测方法分类 5.1 按检测原理分类 5.1.1 脉冲反射 超声探头发射的超声脉冲波进入工件遇到工件内部不连续或工件边界产生反射声波,再由探头接收,由此判别工件中是否存在缺陷,称为脉冲反射。 通过超声波在工件中传播的时间计算出缺陷深度,反射波的高低判断出缺陷相对大小,按反射 波的形状大致判断出缺陷性质。 方法包括缺陷回波法,底波高度法和多次底波法。 脉冲反射式探伤示意 5.1.1 脉冲反射 缺陷回波法: 三定 定位:回波的传播时间。 定量:回波的幅度。 定性:综合各种因素。 底波高度法 5.1.2 衍射时差法(TOFD) 原理 TOFD(Time of Flight Diffraction),利用缺陷部位的衍射波来检测缺陷,根据衍射波的传播时间差来确定缺陷自身高度高度。 特点 纵波斜探头、一发一收两个探头、探头对称分布于焊缝两侧。 原理图 探头布置 扫查方式 几种扫查扫查方式特点: 非平行扫查:快速检测和测定缺陷长度;可大致测定缺陷的深度;无法测定缺陷距焊缝中心线的偏移量。 偏置非平行扫查:增大检测范围;提高缺陷深度的测量精度;改进缺陷定位,并有助于降低下表面盲区。 平行扫查:改进缺陷定位和缺陷深度(高度)测定的准确性。 5.1.2 衍射时差法(TOFD) 直通波、缺陷上下端点衍射波、底面反射波。 5.1.2 衍射时差法(TOFD) 变形波。一般会迟于底面反射波到达接收探头。 5.1.2 衍射时差法(TOFD) 缺陷深度计算:以直通波为参考起点。 t:缺陷上端点衍射波与直通波的传播时间差。 L:缺陷上端点声程的一半。 5.1.2 衍射时差法(TOFD) 缺陷自身高度 波幅灰级处理 5.1.2 衍射时差法(TOFD) TOFD显示包括A扫信号和TOFD图像。 向外表面延伸的裂纹 向内表面延伸的裂纹 水平方向的平面形缺陷 近表面裂纹 未焊透 根部未熔合 侧壁未熔合 气孔 横向裂纹 根部内凹 层间未熔合 5.1.2 衍射时差法(TOFD) 典型TOFD图像 5.1.2 衍射时差法(TOFD) TOFD法优缺点 采用一发一收双探头在工件相对两端面检测声波穿透工件后的能量变化来判断工件中缺陷的方法。 5.1.4共振法 利用入射波和反射波互相叠加形成驻波,产生共振的特性里判断工件中缺陷和厚度的方法。 共振产生的条件是声程是1/2波长的整数倍,根据产生不同的波节数得到两相邻共振频率,通过计算得到工件厚度。 5.2 按显示方式分类 A型显示-横坐标表示时间,纵坐标表示信号幅度; B型显示(正视图)-与声束传播方向平行且与工件测量表面垂直的剖面; C型显示(俯视图)-工件横断面;二维扫描;较窄的电子闸门。 D型显示(侧视图)-与声束平面及测量表面垂直的剖面。 A、B 、C、D显示 A扫描 B扫描 C扫描 5.2 按显示方式分类 P型显示-投影成像扫描,显示C扫描图像(俯视)和D扫描图像(侧视);专为检测焊缝而开发的。 大致估计焊缝中缺陷形状和空间位置。 5.2 按显示方式分类 ALOK成像-振幅-传播时间-位置曲线; 5.2 按显示方式分类 相控阵-利用各晶片激励或接收声脉冲的先后顺序,控制脉冲的时间延迟与声波到达缺陷各点的相位关系,实现聚焦点和声束方向的变化对缺陷进行扫描成像。 特点:多晶片、多通道(一个通道接一个阵元)、每个阵元有各自的接头延时电路、每个晶片之间声绝缘。 线阵、环形面阵、 5.2 按显示方式分类 相控阵声束偏转 各单元的激励脉冲从左到右等间隔增加延迟时间。 改变延时间隔,调整声束角度。 5.2 按显示方式分类 相控阵声束聚焦 两端阵元先激励,逐渐向中间加大延时。 改变延时间隔,调整聚焦深度。 声束偏转聚焦 5.2 按显示方式分类 相控阵扇形扫查(S扫描成像) 在入射点形成一定角度的扇形扫查范围。 5.2 按显示方式分类 相控阵的优点: 不移动或少移动探头,进行快速线扫或扇扫,检测效率高; 可改变声束角度,具有良好的声束可达性,进行复杂形状工件的检测; 控制声束偏转和聚焦深度,实现全深度聚焦检测。 5.3 按波型分类 5.3 按波型分类 5.3 按波型分类 5.3 按波型分类 5.3.2横波 ①特点:波长?小,衰减快、穿透能力差、不适用粗晶材料。 ②产生方法: ?II>入射角?L>?I a)直接接触法:入射角?L应在57.70 ~27.60之间 b)水浸法:入射角?L应在14.50 ~27.270之间 ③应用: 斜入射,检测与表面有一定倾角方向的缺陷。用于焊缝和钢管的检测,以及厚的钢板和锻件的辅助检测
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