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7.2 原子发射光谱分析的基本原理1.元素的特征谱线 原子的共振线与离子的电离线 1. 光源 (1)直流电弧 特点: (2) 低压交流电弧 (3)高压火花 (4)等离子体焰炬 ICP-AES重要部件示意图 等离子炬管分为三层。最外层通Ar气作为冷却气,沿切线方向引入,并螺旋上升,其作用:第一,将等离子体吹离外层石英管的内壁,可保护石英管不被烧毁;第二,是利用离心作用,在炬管中心产生低气压通道,以利于进样;第三,这部分Ar气流同时也参与放电过程。 中层管通人辅助气体Ar气,用于点燃等离子体。内层石英管内径为1 ~2mm左右,以Ar为载气,把经过雾化器的试样溶液以气溶胶形式引入等离子体中。 用Ar做工作气体的优点:Ar为单原子惰性气体,不与试样组份形成难离解的稳定化合物,也不象分子那样因离解而消耗能量,有良好的激发性能,本身光谱简单。 光源特性对比表 2. 分光系统 (2)凹面光栅分光系统 (3)中阶梯平面反射光栅的分光系统 3. 进样系统 4. 检测器 检测器 光谱级-波长 二维光谱 5. 仪器主要类型 (2) 全谱直读等离子体光谱仪 仪器特点: 共振线、灵敏线、最后线及分析线 由激发态直接跃迁至基态所辐射的谱线称为共振线。由较低级的激发态(第一激发态)直接跃迁至基态的谱线称为第一共振线,一般也是元素的最灵敏线。当该元素在被测物质里降低到一定含量时,出现的最后一条谱线,这是最后线,也是最灵敏线。用来测量该元素的谱线称分析线。 (2)标准试样光谱比较法 将要检出元素的纯物质和纯化合物与试样并列摄谱于同一感光板上,在映谱仪上检查试样光谱与纯物质光谱。若两者谱线出现在同一波长位置上,即可说明某一元素的某条谱线存在。 发射光谱图 2. 内标法 采用内标法可以减小不稳定因素对谱线强度的影响,提高光谱定量分析的准确度。内标法是通过测量谱线相对强度来进行定量分析的方法。 内标法基本关系式: 内标元素与分析线对的选择: (2)标准加入法 作业:P225,2. 5 取若干份体积相同的试液,依次按比例加入不同量的待测物的标准溶液,定容后,浓度依次为: cx , cx +c0 , cx +2c0 , cx +3c0 , cx +4 c0 …… 在相同条件下测定:Rx,R1,R2,R3,R4……。 以R对浓度c作图得一直线,图中cx点即为稀释后的待测溶液浓度。 R=Acb b=1时,R=A(cx+ci ) R=0时, cx = – ci * ICP光源特点 1)低检测限:蒸发和激发温度高; 2)稳定,精度高: 3)基体效应小 4)背景小: 5)自吸效应小: 6)分析线性范围宽: 7)众多元素同时测定: 不足:对非金属测定的灵敏度低;仪器昂贵;维持费高。 5. 试样引入激发光源的方法 试样引入激发光源的方法,依试样的性质而定。 (1)固体试样 金属与合金本身能导电,可直接做成电极。若金属箔丝,可将其置于石墨或碳电极中。 粉末样品,通常放入制成各种形状的小孔或杯形电极中。 对电极(上电极) 样品电极(下电极) 电极多由石墨制成:高溶点、易提纯、易导电、光谱简单; (2)溶液试样 ICP光源,直接用雾化器将试样溶液引入等离子体内。 电弧或火花光源通常将试液滴在平头或凹液面电极上,烘干后激发。试液也可以用石墨粉吸收,烘干后装入电极孔内。 常用的电极材料为石墨,常常将起加工成各种形状。石墨具有导电性能良好,沸点高(可达4000K),有利于试样蒸发,谱线简单,容易制纯及容易加工成型等优点。 (3)气体试样 通常将其充入放电管内。 (1)平面反射光栅的分光系统 主要用于单通道仪器,每次仅能选择一条光谱线作为分析线,检测一种元素。 实现多道多元素的同时检测。 中阶梯光栅与棱镜结合使用,形成了二维光谱,配合阵列检测器,可实现多元素的同时测定,且结构紧凑,已出现在新一代原子发射光谱仪中。 电弧、电火花及激光为光源的发射光谱仪器:主要分析固体试样。试样放在电极中。 ICP光源:将试样制备成溶液后进样。 溶液进样装置:见图 , 雾化、蒸发、原子化。 1.照像法(也叫摄谱法) 2.光电倍增管和阵列检测器两类 。 (1)光电直读等离子体发射光谱仪 利用光电法直接获得光谱线的强度。 两种类型:多道固定狭缝式和单道扫描式。 采用CID或CCD阵列检测器,可同时检测165~800 nm波长范围内出现的全部谱线。 多采用中阶梯光栅加棱镜分光系统。 28×28mm CCD芯片上,可排列26万个感光点点阵,具有同时检测几千条谱线的能力。
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