PZXI_2015013光缆测试规范_new_new要点.docxVIP

文档编号PXZI_2015012 光缆中继段测试及故障定位分析 培 训 资 料 一、OTDR测试的主要内容 1、测纤长和事件点的位置。 2、测光纤的衰减和衰减分布情况。 3、测光纤的接头损耗。 4、光纤全程回损的测量。 5、测试光纤可能有的异常情况（如有台阶，曲线异常等）。 二、测试参数设置 1、波长选择： 因不同的波长对应不同的光线特性(包括衰减、微弯等)，测试波长一般遵循与系统传输通信波长相对应的原则，即系统开放1550波长，则测试波长为1550nm。 2、脉宽：? 长距离用长脉宽，短距离用小脉宽。长脉宽平均化时间短，但OTDR分辨率低，光纤存在的细小的异常情况（如小台阶等）不易发现；小脉宽平均化时间长，但OTDR分辨高，易发现细小的异常情况。两者必须有机结合，合理配置。一般 10公里以下选用100ns、300 ns ,10公里以上选用300ns、1μs。 3、测量范围：? ??OTDR测量范围是指OTDR获取数据取样的最大距离，此参数的选择决定了取样分辨率的大小。最佳测量范围为待测光纤长度2倍距离左右。 4、平均时间： ??由于后向散射光信号极其微弱，一般采用统计平均的方法来提高信噪比，平均时间越长，信噪比越高。例如，3min的获得取将比1min的获得取提高 0.8dB的动态。但超过 10min的获得取时间对信噪比的改善并不大。一般平均时间不超过3min。 5、光纤参数：? ? 光纤参数的设置包括折射率n和后向散射系数n和后向散射系数η的设置。折射率参数与距离测量有关，后向散射系数则影响反射与回波损耗的测量结果。这两个参数通常由光纤生产厂家给出。 6、测试模式： OTDR的测试光纤衰减模式分为2PT（两点法）、LSA（最小两乘法），测试接头模式5 SPLICE（五点法）分为自动、手动，选用合理的模式可以减少测试误差； 2PT：当所测光纤曲线上有台阶、曲线不良等情况时，必须两点法测试光纤衰减； LSA：当所测光纤曲线斜率均匀时，用LSA测试光纤衰减； 5 SPLICE：测试接头损耗原则上采用自动模式，可以减少人为误差。 （接头损耗是指光纤连接器、耦合器、熔接点???） 三、OTDR测试介绍 1、长度测量和光纤链路总衰耗 一般采用两点法，将受测光纤与尾纤一端相接，尾纤一端连到OTDR上，调整出显示尾纤和受测光纤的后向散射峰。其曲线见图 被测试光纤长度 DB/DIV M/DIV 第一个菲涅尔反射峰前沿 第二个菲涅尔反射峰前沿 尾纤 L A B 将光标A置于第一个菲涅尔反射峰前沿，将光标B置于第二个菲涅尔反射峰前沿，光标A与光标B之间的相对距离差就为被测光纤长度，此时测出光纤链路通道总衰耗，包括前端连接器损耗和前后端成端损耗。要准确测量光纤通道总衰耗，也可采用稳定的光源和光功率计直接测量，注意采用双向测试取平均值的方法降低误差。 2、光纤衰减的测试 M/DIV DB/DIV 第一个菲涅尔反射峰后沿 第二个菲涅尔反射峰前沿 尾纤 B A 如图所示： 将光标A置于第一个菲涅尔反射峰后沿，曲线平滑的起点，将光标B置于第二个菲涅尔反射峰前沿，光标A与光标B间显示衰减系数就是光纤A、B间衰减系数，但非整根光纤的衰减系数。 3、接头损耗的测量 如图所示将光标定于曲线的转折处如图位置，然后选择测接头损耗功能键，便可测得接头损耗。 光标 四、曲线分析 后向散射曲线可归纳为三种情况。 DB/DIV c b e a A B d 1、典型反射曲线： 这条曲线包括各种常见现象(见下图), 以下对图中各个区域作一简单描述： M/DIV 区域（a）即在A点至B点区域内，曲线斜率恒定：表明光纤在该区域的散射均匀一致。因此可获得相应的常数。在这种情况下，测量仅从一端即可满足要求。 区域（b）表示局部的损耗变化，这种变化可能，主要由外部原因（如光纤接头）和内部原因光纤本身引起的，在此情况下，进行两端测量，取平均值表示该接头损耗。 区域（c）所示的不规则性由后向散射的剧烈增强所致，这种变化可能由外部测试原因二次反射余波（鬼影）产生能量叠加和内部原因光纤本身缺陷（小裂纹）造成的，先必须确认是何种原因，再采用两端测量来测定这种不规则对衰减的影响。 区域（d）即后向散射曲线有时出现弓形弯曲。有内部因素，一般是吸收损耗变化导致衰减变化。对于外部因素，可能与光纤受力增加有关。如何确定是何种因素，可对光纤或兴缆施加外力或改变其温度，如特性不变，是内部因素，反之为外部因素 区域（e）