电源测试系列之过温保护(OTPtest)教程解析.docxVIP

电源测试系列之过温保护(OTP test) 测试目的验证待测电源不会因下列情形发生，从而造成由于内部温度升高而导致电源损坏、系统数据的丢失及安全事故发生:- 电源周边环境温度升高,或- 风流减少或被阻; 测试示意图 测试条件- 输入：规格中定义的最小及最大输入交/直流电压，最小及最大交流频率；- 输出：规格中定义的最大输出负载；- 温度：常温及最高工作温度。 测试设置 在电源内部关键元器件上粘贴温度线(Thermal Couple), 如开关管，变压器，电感，整流管等热源及靠近热源的电解电容等位置。在整个试验过程中需记录温度数据。 测试步骤 1. 依规格要求设定最小输入电压/频率，将负载电流设为最大； 测试方式12. 开机后，从最高工作温度开始，以每30分钟3~5?C的速度改变待测电源周边环境温度，直到电源关机或输出震荡，测量并记录输出电压及各信号线波形；3. 将环境温度调整到常温，待电源冷却后重新开机，测量输出电压；4. 改变输入电压/频率，重复步骤2、3。 测试方式2 2. 阻挡任何风流流经电源内/外部,直到电源关机或输出震荡，测量并记录输出电压及各信号线波形；3. 将待测电源取出(恢复正常工作条件)，待冷却后重新开机，测量输出电压；4. 改变输入电压/频率，重复步骤5、6。 测试方式3 -Adapter 2a. 将Adapter放入无风流的烤箱内,逐渐增加烤箱温度，直到电源关机或输出震荡，测量并记录输出电压及各信号线波形；或 2b. 将Adapter用厚棉布包裹，放在无风流的环境内,直到电源关机或输出震荡，测量并记录输出电压及各信号线波形；3. 将待测电源取出(恢复正常工作条件)，待冷却后重新开机，测量输出电压；4. 改变输入电压/频率，重复步骤5、6。 判定条件- 待测电源不可以损坏(Damaged/Broken down)；- 保护后重新开机，输出电压符合输出稳压要求(Regulation)； - 元器件温度不可超过额定值或符合单一故障条件下的安规要求；- 若有时序要求，则过温保护时符合规格时序要求。 注： 1. 如果有电源设计有采用Firmware(如PMBus或Can-Bus)，则需验证软件的状态读值是否满足要求， 2. 如果有电源设计有采用LED作为电源工作状态指示，则还需验证LED在电源故障条件下的状态显示是否满足设计要求。 附：测试报告表单参考（元器件温度数据报告请自行定义） 说明：其他输出以及其他试验条件下的试验报告格式请参考上述表单制定！  电源测试系列之输出过/欠压保护(OVP/UVP test) 测试目的验证待测电源在内部发生故障而导致输出电压升高或降低至系统输入要求极限时，是否能及时关机从而保证系统的安全。 说明：OVP/UVP测试通常有2种方式-外灌电压方式和回路故障模拟方式： - 外灌电压方式，比较适合中小功率电源在量产阶段的产线测试，尤其是组装好以后的成品测试检验，它通过在输出端外加电压来检验OVP/UVP设置是否满足规格要求，但这一方式并不能真正的反映电源OVP/UVP设置点，而且一般电源OV/UV的发生通常和电源本身的内部失效有关。 - 回路故障模拟方式，对所有开关电源都适用；比较常见在工程样机验证阶段及产线的半成品测试阶段，它通过模拟电源内部的单一失效来检验OVP/UVP设置是否满足规格要求。对线性电源来说，可通过短路/增加输出回路阻抗来模拟OV/UV情形，而对大部分开关电源来说，则通过模拟反馈回路的失效来实施检验。 本文将围绕模拟反馈回路失效这一方式来介绍OVP/UVP的测试方法。 测试示意图 测试条件 - 输入：规格中定义的最小及最大输入交/直流电压，最小及最大交流频率；- 输出：规格中定义的最小/OVP，最大输出负载/UVP；- 温度：最低工作温度，常温及最高工作温度。 测试设置找到待测输出电路的反馈回路(如图示)，改变反馈回路中采样电阻RA或RB的大小，使输出电压增加或降低，直至电源因OV或UV保护而关机或震荡(Hic-cup/Bouncing)。测试步骤 A1. 依规格要求设定最低环境工作温度，最小输入电压/频率，将负载电流设为最小(OVP)，设为最大(UVP)；2. 开机后，改变反馈回路中采样电阻的大小，使输出电压增加或降低，直至电源因OV或UV保护而关机或震荡，测量输出电压并记录测试波形；3. 将采样电阻短路或开路，以待测电源提供的各种开机方式开机, 测量输出电压并记录测试波形；4. 若OV/UV后，电源状态为bouncing/hic-cup，则持续开机短路至少30分钟；5. 改变测试条件(输入电压/频率及环境温度)，重复步骤2、3、4；6. 同样方法测试其他输出。 测试步骤 B(UVP): 若输出电压