基于FPGA的DSP开发(二)概述.ppt

5.2.7 使用嵌入式逻辑分析仪SignalTap II进行测试 只进行工程的软件仿真远远不够，必须还要进行硬件仿真，使用传统的硬件方法进行测试会有如下的一些缺点： 缺少空余I/O引脚。设计中器件的选择依据设计规模而定，通常所选器件的I/O引脚数目和设计的需求是恰好匹配的。 I/O引脚难以引出。设计者为减小电路板的面积，大都采用细间距工艺技术，在不改变PCB板布线的情况下引出I/O引脚非常困难。 接逻辑分析仪有改变FPGA设计中信号原来状态的可能，因此难以保证信号的正确性。 传统的逻辑分析仪价格昂贵，将会加重设计方的经济负担。 针对传统硬件测试的局限，Altera公司和Xilinx公司分别推出了基于JTAG的内部逻辑分析仪，Altera公司的嵌入式逻辑分析仪为SignalTap。嵌入式逻辑分析仪可以随设计文件一起下载到目标芯片中，通过JTAG引脚捕捉目标芯片内部设计者感兴趣的信号节点处的信息，而又不影响系统的正常工作。嵌入式逻辑分析仪将测得的信号样本暂存于目标器件中的嵌入式RAM中，然后通过器件的JTAG端口或ByteBlaster下载线将采得的信息传给计算机进行分析。 嵌入式逻辑分析仪SignalTap II允许对设计中的所有层次的模块的信号节点进行测试，可以使用多时钟驱动。SignalTap II具有可以灵活配置的特点，下面会介绍到。嵌入式逻辑分析仪的三项主要优点：