【参考】集成运放参数测试仪.docVIP

试题编号 B 集成运算放大测试仪 学校 哈尔滨工程大学 姓名 杨亮 姓名 韦峻峰 姓名 宋海东  摘 要 集成运放的带宽与失调是衡量一个运放优劣的重要性能指标。本设计在单片机控制下，适当地改变运放测试电路连接，通过ADC采集得到一系列运放的参数的物理量。通过计算，可以得到运防的VIO、IIO、AVD、KCMR和BWG等参数并且记录现场放的VIO、IIO、AVD、KCMR和BWG等参数并且记录现场的温度,且具有自动测量的功能。系统内置DDS信号源AD9851，可以输出高稳定度的正弦信号。系统采用控制模块＋采集系统的框架，可以非常方便的通过RS-232将测试结果上传至计算机已备分析计算。本设计还具有打印测试结果、数据存储等功能。 关键词 运放 VIO IIO AVD KCMR BWG DDS 参数 Abstract The bandwidth and bias are important index of operational amplifiers who can tell OP’s performance. This testing system is under the control of micro controller. By modifying the testing circuit, a group of data can be obtained.