4 多晶体的分析方法分析.pptVIP

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  • 2016-07-01 发布于湖北
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第四章 多晶体分析方法 §4.1 引言 ㈡.德拜相机 德拜相机剖面示意图 二.试样及底片安装 3. 摄照规程的选择 四、德拜相的误差及修正 (一)试样吸收误差 试样对X射线的吸收造成衍射线偏离理论位置,因此在计算时需对2L进行修正。 考虑到金属材料对X射线吸收较强烈,可认为仅是试样表面受到照射(0.02mm) 2L0= 2L外缘-2? 其中:2L0 —— 弧对的平均理论距离 2L外缘 ——试样吸收后得到的实际弧对距离 ? —— 圆柱试样的半径 (二)底片伸缩误差 由于相机直径制造误差、底片安装误差(未紧贴相机内腔)、或底片在冲洗过程伸缩 2?R误差 影响θ角的准确度 所以,利用偏装法直接测量底片周长,避免上述误差,称为有效周长C0 五. 立方系物质德拜相的计算 (一)物相鉴定步骤 1、对弧对标号; 2、测量有效周长C0;(0.01mm) 3、测量并计算弧对间距2L; 4、计算θ; 5、按布拉格方程计算d; 6、估计相对强度; 7、查卡片确定物相。 衍射线的干涉指数 (三)计算点阵参数 按照立方系晶面间距公式 注意:高θ计算结果较精确 §4.3 X射线衍射仪 一. 衍射仪的构造

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