时序电路测试生成算法研析.pdf

摘 要 I 摘 要 为解决同步时序电路的测试难题，提高时序电路测试生成效率，本文进行了 时序电路测试生成算法的研究。近年来，发展迅速的进化算法在组合优化等领域 获得了广泛的应用，本文在对多种进化算法进行研究比较的基础上，将蚂蚁算法、 遗传算法、粒子群算法等应用在时序电路的测试生成上，希望能够从中获得高效 的时序电路测试生成器。 首先研究了时序电路自动测试生成技术，主要是为加速测试生成采用的电路 预处理和故障模拟技术。 在研究蚂蚁算法和遗传算法基本原理的基础上，结合时序电路的结构特点， 提出了带初始化的基于蚂蚁算法和遗传算法的自动测试生成模型，针对国际标准 时序电路 ISCAS’89 进行了多项实验验证，与同类算法相比，均获得了较好的测试 生成结果，证明了两种算法的结合是成功的。此外，为得到更加精简的测试集， 采用了矢量删除的静态压缩方法对基于蚂蚁算法的测试生成结果进行了后处理。 鉴于粒子群算法操作简单，可以避免复杂的遗传操作，本文利用其特有的记 忆功能，将其应用在时序电路的测试生成中。针对时序电路建立了离散粒子群自 动测试生成模型，并针对 ISCAS’89 进行了实验验证。此外，为解决粒子群算法容 易出现停滞现象，搜索精度不高，进化后期收敛速度慢的缺点，结合蚂蚁算法实 现时序电路的测试生成，并针对 ISCAS’89 进行了实验验证，给出了相关实验结果。 为解决基于模拟的测试生成不能识别不可测故障的缺点，将其与确定性算法 相结合实现测试生成。在基于蚂蚁算法和遗传算法的测试生成基础上再引入 SAT 算法。SAT 算法通过将时序电路进行迭代连接构成迭代组合模型，再转换为 CNF 范式，调用组合 SAT 算法求解实现。针对 ISCAS’89 的实验结果表明，模拟和确 定性算法的结合使得测试生成效率得到了进一步的提高。 为解决 MCM 基板互连测试探针路径优化问题，在研究了 MCM 互连测试探针 路径优化原理的基础上，结合 MCM 基板互连的结构特点，建立了 ACS 求解单探 针路径的数学模型，给出了探针测试策略，实现了基于蚂蚁算法的探针测试路径 优化，并进行了相关参数仿真实验。采用分片优化的方法，首次解决了大规模MCM 基板互连的探针测试路径优化问题。针对MCNC提供的MCM Benchmark进行了实验， 本文设计的算法在优化结果上均优于其它算法，从而证明了蚂蚁算法在解决探针 测试路径优化问题中的有效性，其主要原因在于蚂蚁算法信息素的引入，使得蚂 蚁算法能够以较稳定的速度逼近最优解，而且收敛速度较快。 关键词：时序电路 测试生成 蚂蚁算法 遗传算法 粒子群算法 SAT 算法 ABSTRACT III ABSTRACT In order to solve the hard problem of testing for synchronous sequential circuits, improve the test generation efficiency of sequential circuits, this dissertation studies the algorithms of test pattern generation for sequential circuits. In recent years, with the rapid development of evolution algorithms, they have been used widely in the field of combination optimization. After comparing several kinds of evolution algorithms, this dissertation applies the ant algorithm, genetic algorithm an