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点阵常数的精确测定研讨

点阵常数晶体物质的重要参量,它随物质的化学成分和外界条件而发生变化; 许多材料研究和实际应用问题,都与点阵常数的变化密切相关;如晶体物质的键合能、密度、热膨胀、固态相变等; 上述过程中,点阵常数的变化一般很小(约为10-4?)数量级。 主要内容 点阵常数精确测定的原理 德拜—谢乐法的系统误差 衍射仪的主要误差 外推法消除系统误差 最小二乘法 8.1 点阵常数精确测定的原理 以立方晶系为例,点阵常数的计算公式为: 不能用利用外推函数消除的误差 测角仪零点(即0°2?角位置)的调整误差; 2?/ ?角的2:1驱动匹配误差; 计数测量系统滞后误差等。 8.4 外推法消除系统误差 原理 无论德拜—谢乐法还是衍射仪法,系统误差都与衍射角?呈一定的函数关系。 外推法消除系统误差,就是将由若干条衍射线测得的点阵常数,按一定的外推函数外推到?=90°,此时系统误差为零,即得到精确点阵常数。 实测点阵常数一般可表示为: * 第8章 点阵常数的精确测定 必须对点阵常数进行精确测定 测定点阵常数的依据 衍射线的位置 即2?角 以衍射花样指数化为基础 通过布拉格方程和晶面间距 公式计算点阵常数 影响点阵常数的因素: 1)入射X射线的波长; 2)晶面指数(HKL); 3)sin?. 波长可精确到5×10-6 ? (HKL)为整数,无误差; sin?为主要原因.

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