06与非门测试研究.ppt

实验十六十七 与非门测试和组合逻辑电路 一、实验目的 学会使用TTL逻辑电路芯片 掌握组合逻辑电路的功能测试方法 TTL器件注意事项 TTL电源+VCC:+5V 误差10% 输出端：不允许直接接+5V 或地，除OC门和三态（TS）门外，输出端不可并联 输入端： 与门，与非门 多余输入端：接+5V，并联，悬空 不影响逻辑功能 实验内容与要求 内容1：测量TTL与非门的输出高电平 、输出低电平，P124页 实验1、TTL与非门测试(74LS00) 实验内容与要求 内容1：测量门电路在输入脉冲波形的作用下，输出波形相对于输入波形延迟的时间。 实验2、门传输延迟时间(74LS00) 输入TTL方波，计算出延迟的平均值 CMOS器件注意事项 CMOS门的电源电压为3～18V CMOS与非门不用的输入端不能悬空，应按逻辑功能接高电平VDD或低电平VSS SSI组合逻辑电路 实验目的 熟悉用SSI(小规模集成电路）设计组合逻辑电路的方法； 学会组装和调试组合逻辑电路。 掌握多片SSI组合电路的级联方法。 设计“大小比较电路” 设计一个能判断1位二进制数A与B大小比较电路 。 实验报告中要有设计过程并画出逻辑图。 将A、B分别接数据开关，L1、L2、L3接逻辑灯。 测试结果记入表5.17.2中（p133） 510W 调试（查故障）方法 信号寻迹法（跟踪） 例：RYG=000 L应该为1发光管亮 可用万用表测量各逻辑门的输出电压，从而判断故障的位置。 芯片管脚图 ? 339页 下周实验 实验十九 集成触发器