材料研究方法光学显微镜概述.ppt

第2章 光学显微镜;2.1 概述2.2 晶体光学基础2.3 光学显微分析方法2.4 光学显微分析样品的制备2.5 光学显微分析技术的进展2.6 光学显微分析技术的应用;2.1 概 述;15世纪中叶：Frsncesco Stelluti，放大镜（单式显微镜）;17世纪中叶 R. Hooke：设计第一台性能较好 的显微镜;阐明光学显微镜成像原理，油浸系物镜，光学显微镜分辨本领达0.2微米理论极限;二、光学显微镜分类;相位差显微镜;2.2 晶体光学基础;一、光的物理性质;?电磁波谱 ;2.自然光和偏振光 ;二、光与固体物质的相互作用;特点: ①绝对折射率 ②介质的折射率与光在介质中的传播速度Vr成反比 ③光在真空中的传播速度最大，介质中N1 ④折射率色散:同一介质的折射率因为所用光波波长的不同而不同；对于同一介质，波长与折射率成反比；;④晶体的折射率色散能力：晶体在两种波长光波中测定的折射率的差值； 差值越大，晶体色散能力越强；反之则越弱;2.光的吸收;三、光在物质中的传播 ;2.光性非均质体;冰洲石的双折射现象; 一束自然光穿过各向异性的晶体时分成两束偏振光的现象。;四、光率体;2.一轴晶光率体;（1）一轴晶光率体的构成;一轴晶负光性光率体：以c轴为旋转轴的扁形旋转椭球体，光波平行光轴振动时的折射率总是比垂直光轴振动时的折射率小，Ne＜No。;无论是正光性或负光性光率体，直立轴（光轴）永远是Ne ，水平轴永远是No。 Ne与No为一轴晶矿物折射率的最大值与最小值，称为主折射率。 Ne与No 之差值（Ne-No）为一轴晶矿物最大双折率;（2）一轴晶光率体的主要切面;②平行光轴切面 椭圆切面，长短半径分别等于No与Ne，光波垂直这种切面入射时，发生双折射，两条偏光的振动方向分别平行椭圆切面长、短半径，折射率分别等于椭圆切面的长、短半径。双折射率为No和Ne之差。;③斜交光轴切面 椭圆切面，长短半径分别等于No与Ne’，光波垂直这种切面入射时，发生双折射，两条偏光的振动方向分别平行椭圆切面长、短半径，折射率分别等于椭圆切面的长、短半径No与Ne’，双折射率为No和Ne’之差。;五、光性方位;斜方晶系光率体，三轴椭球体，光率体的三根主轴与晶体的三根结晶轴重合，光率体的三个主轴面与晶体的三个对称面（100,010,001面）重合；;2.3 光学显微分析方法;一、偏光显微镜;1.偏光显微镜的构造;☆镜座;☆下偏光镜：用PP代表振动方向;☆锁光圈;☆镜筒 粗动螺丝、微动螺丝 目镜 勃氏镜 上偏光镜 试板孔 物镜;☆物镜 复式透镜 ;☆试板孔;☆?目镜 ;2.显微镜的工作原理;3.偏光显微镜的调节和校正;(2)调节照明（对光） ① 用自然光照明，需要调节反光镜，反光镜有平面镜和凹面镜两种。 ②用人工光源照明，需要调节电压旋钮，电压越高，亮度越大。;(4)调节焦距(对焦) 从侧面看着镜头，先旋转微调手轮，使它处于中间位置，再转动粗调手轮将镜筒下降使物镜靠近试样玻片。然后在观察试样的同时慢慢上升镜筒，直至看清物体的像，再左右旋动微调手轮使物体的像最清晰。 切勿在观察时用粗调手轮调节下降，否则物镜有可能碰到玻片硬物而损坏镜头。;(5)调整载物台机械中心 载物台通常作360°转动，为了防止观察目标移出视域，必须将载物台的机械中心和物镜的主轴相重合。;4.偏光显微镜的试样;5.偏光显微镜的使用 ;(2)正交偏光镜;晶体在正交偏光镜下呈现黑暗的现象。;四次消光：转动物台360°,出现四次消光。 非均质体除垂直光轴以外的切片为椭圆，长、短半径与上、下偏光振动方向AA、PP有四次平行的机会。 四次消光是非均质体的特征; ? 干涉条件：两束光振动频率相同，在同一平面内振动，且存在光程差。;;(3)锥光镜;球晶的黑十字消光现象;二、金相显微镜;1-灯泡； 2-聚光镜组1； 3-聚光镜组2； 4-半反射镜； 5-辅助透镜1； 6-物镜组； 7-反光镜； 8-孔径光阑； 9-视域光阑； 10-辅助透镜2；11,12-棱镜； 13-场镜； 14-接目镜 ;(1)光源：低压白炽灯,位于镜筒侧面 (2)孔径光阑：控制入射光束的直径，影响分 辨率和反差 视域光阑：控制观察区域范围 (3)垂直照明器:光路行程换向的作用;（a）玻片反射器：光强损失大，视域亮度较弱，有害反射较多；视域亮度均匀、分辨率较高 ;（b）棱镜反射器：光线损失较少，视域明亮，有害的干扰反射光少；但视域明暗不均、分辨率下降;(4)照明方式;b.暗场照