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电子科大薄膜物理(赵晓辉)第四章 化学气相沉积
第四章 CVD/化学气相沉积;主要内容;1. Introduction;化学气相沉积/Chemical Vapor Deposition,简称CVD,是把含有构成薄膜元素的一种或者几种化合物或单质气体供给基片,借助气相作用或在基片上的化学反应生成所需薄膜。 ;1) gas decomposition/气体分解
(1) 热分解
(2) 等离子体分解
(3) 光 (激光,紫外) 分解
2) 类型-根据不同温度,压力, …
CVD chemical vapor deposition
APCVD atmospheric pressure...
LPCVD low-pressure...
VLPCVD very low pressure…
PECVD plasma-enhanced...
LECVD laser-enhanced...
MOCVD metal-organic...
ECRCVD electron-cyclotron resonance...
VPE vapor-phase epitaxy
;3) 优点
低成本介电( 多晶硅, Si3N4, SiO2 )和金属薄膜
沉积速率快
高压或低压
厚度,缺陷和电阻控制
薄膜质量好
适合半导体, ex., Si3N4, SiO2 and 外延层
辐照损伤低
但是沉积温度高!;4) 影响薄膜结构的因素
(1) 基板或腔体的温度
(2) 生长速率
(3) 气压
这些因素影响了原子在表面的迁移速率。
;;APCVD;LPCVD;PECVD;
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并非所有组成部分都有。
气源在基板表面反应,沉积生成薄膜。;
Pyrolysis/热分解 (thermal decomposition)
AB(g) --- A(s) + B(g)
ex: Si 沉积 @ 650oC
SiH4(g) --- Si(s) + 2H2(g)
适用于 Al, Ti, Pb, Mo, Fe, Ni, B, Zr, C, Si, Ge, SiO2, Al2O3, MnO2, BN, Si3N4, GaN, Si1-xGex, . . .
;Reduction/还原和Exchange/置换
一般用H2
AX(g) + H2(g) === A(s) + HX(g)
温度比热分解低
过程可逆 = 也可用于清洁
ex: W 沉积@ 300oC
WF6(g) + 3H2(g) === W(s) + 6HF(g)
适用于Al, Ti, Sn, Ta, Nb, Cr, Mo, Fe, B, Si, Ge, TaB, TiB2, SiO2, BP, Nb3Ge, Si1-xGex, . . .
;Oxidation/Nitrition- 氧化/氮化
采用O2 /N2
AX(g) + O2(g) --- AO(s) + [O]X(g)
ex: SiO2 沉积 @ 450oC (温度比热氧化要低)
SiH4(g) + O2(g) --- SiO2(s) + 2H2(g)
适用于Al2O3, TiO2, Ta2O5, SnO2, ZnO, . . .
;Compound formation
常采用氨水或水蒸气
AX(g) + NH3(g) --- AN(s) + HX(g)
AX(g) + H2O(g) --- AO(s) + HX(g)
ex: 耐磨涂层沉积(BN) @1100oC
BF3(g) + NH3(g) --- BN(s) + 3HF(g)
适用于TiN, TaN, AlN, SiC, Al2O3, In2O3, SnO2, SiO2, . . .
;Disproportionation/歧化反应
化合物包含多种价态的成分
2AB(g) === A(s) + AB2(g)
ex: ???????????????????????????????????????????????????????????
适用于Al, C, Ge, Si, III-V compounds, . . .;Reversible Transfer/可逆输运
??????????????????????????????????????????????????????
适用于 GaInAs, AlGaAs, InP, FeSi2, . . .
;反应如何进行?;Thermodynamics and kinetics;*;3. 反应定律;3.2 CVD 过程;CVD 源
源类型/
gasses (最简单)
volatile liquids/易挥发液体
sublimable solids/ 可升华固体
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