光谱分析光吸收.pptVIP

固体物理实验方法;;光吸收谱 光散射谱 光发射谱;一、紫外-可见-红外光谱; 光波在吸收媒质中传播的理论基础是麦克斯韦方程。如只涉及电中性媒质，对于电场强度矢量E有下面的方程：; E或H的一个分量的解可以写成;考虑到自由空间中N＝1， ε＝1，μ＝1，σ＝0，则媒质中：; 因为电磁场的能流以玻印廷矢量表示，正比于电场和磁场矢量振幅的乘积，而两者都有exp(-ωkx/c)项，因此衰减为exp(-2ωkx/c)，媒质的吸收系数α为：; 光线入射在平行的透明薄板上时，在薄板内部将产生多次反射，在一些波长处会出现相长或相消干涉。如果进行透射光谱测量，就会得到一系列的条纹(薄膜干涉），由此可较准确地求得折射率。 如果薄膜中存在吸收，条纹的衬度就会降低或消失，此时的光谱透射率表示为; 在半导体和介质的透射率测量中，一般k2n2，而且exp(2αd)R2，因此上式简化为：;光垂直入射时，反射波和入射波的振幅比是;相移θ的获得：利用Kramers－Kronig关系，由测量得到的R(ω)推算相移谱θ(ω)。由(4.14)式，有：;其中P表示科希积分主值：; 在实验上在有限波段测得的光谱反射率数据的基础上，进行适当的外推，然后利用(4.17)式，由计算机进行数值积分求得相移角θ(ω),最后通过下式求得光学常数：;图4-2 典型的紫外、可见单光束和双光束分光光度计的光学系统(a)单光束分光光度计;图4-2 典型的紫外、可见单光束和双光束分光光度计的光学系统(a)双光束分光光度计; 紫外、可见光谱仪的设计一般都尽量避免在光路上使用透镜，主要使用反射镜，以防止由仪器带来的吸收误差；当光路中不可避免使用透明元件时，应选择对紫外、可见光均透明的材料。 仪器的进展主要集中在光电倍增管、检测器和光栅的改进上，提供仪器的分辨率、准确性和扫描速度，最大限度地降低杂散光干扰。仪器配置微机操作，软件界面更方便。; 由实验得到的光谱反射率R和光谱透射率T以及实验厚度d，可计算出吸收系数α的值，作α与光谱长λ(或光子能量E，频率ω)的关系曲线即为晶体的吸收光谱。; 作透射光谱时，一般先将样品加工成平行平板，厚度视吸收系数大小而确定，大约是1/α 的几倍。 在基本吸收区域吸收系数很高，样品需减薄到几十微米甚至几微米的数量级，这样薄的样品用普通的加工工艺不易获得，所以不少样品是用蒸镀薄膜而得到的。不过这样做又带来衬底的影响，如产生不易消除的应力等。 另外非常薄的材料的光学常数随样品厚度产生明显的变化，失去了大块材料的特性。;图4-1 吸收光谱实验装置图;3.2 反射光谱测量 对应规则(镜面反射)反射光谱测量，多数分光光度计都备有固定角和可变角两种类型的反射附件。;图4-3 反射光谱附件(b)可变角反射附件;图4-4 反射光谱附件 (c)绝对反射率测量附件;法向入射：一般入射角θ10°。 非法向入射：入射角θ10°。; 一般光波波长越短，反射带形状变化越明显，那些对表面结构极其敏感的激子反射带甚至会完全消失。 样品经光学抛光后，还应该用合适的化学腐蚀剂对样品表面进行化学腐蚀，以取得完整的表面。 有些试样易潮解或氧化，甚至吸附一层外来分子，都会给测量结果带来影响。;3.3 调制反射光谱 调制反射光谱：在外场作用下(例如电场、磁场、温度或压力等)，所产生的反射率的变化△R谱。;固体光学性质的描述： 调制参量对光学性质的作用也可表示为复介电函数实部和虚部的变化：;式中:;调制光谱分类： 一级微商谱(温度、压力和波长调制) 三级微商谱(电调制);电调制反射光谱： 光源要求足够强，以探测10-6数量级的信号；可用一般的棱镜单色仪；测量△R/R信号时应同时测量界面电容，调节直流偏压，保持界面电势不变。;图4-7 n型Ge的电调制反射谱;3.4 偏振反射光谱： 为什么要采用偏振反射光谱？ 晶体的反射光谱带的清晰度强烈地依赖于光的入射角和偏振，对应光学各向同性晶体，最好的观察条件，即在反射光谱中能够观察到最大对比度结构的条件是： (1) 入射角接近布儒斯特角 (2)光的电矢量平行于入射面; 在有吸收的条件下，布儒斯特角θB的大小依赖于光学常数n和k。 在n2，k≤1(半导体吸收边情况)条件下，有;椭圆偏振反射光谱： 分析试样表面光反射时偏振状态变化的光谱分布。 通过反射光的电矢量平行入射面和垂直入射面的两个分量的振幅比和相移差来揭示材料的光学性质。