第二章02透射技巧.pptVIP

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磁透镜;;带铁壳的带极靴的透镜;有极靴;4、磁透镜与光学透镜的比较;四、电磁透镜的像差和理论分辨本领;;2、像散;3、色差;4、畸变 见书P106和P107 图2-10;五、电磁透镜的场(景)深和焦深(长);焦深;第二节 电子与固体物质的相互作用;四、各种电子信号 ;2、透射电子;和背散射系数随质量厚度的变化;五、相互作用的体积与信号产生的深度和广度; ;日本日立公司H-700 电子显微镜,配有双倾台 ,并带有7010扫描附件和 EDAX9100能谱。该仪器 不但适合于医学、化学、 微生物等方面的研究,由 于加速电压高,更适合于 金属材料、矿物及高分子 材料的观察与结构分析, 并能配合能谱进行微区成 份分析。;JEM-2010透射电镜;EM420透射电子显微镜;Philips CM12透射电镜;;图2-23 电子显微镜的主体刨面图;(1)照明系统;电子枪是透射电子显微镜的电子源。 常用的是热阴极三极电子枪,它??发夹形钨丝阴极、栅极帽和阳极组成. 图2-24是电子枪结构原理图。在阴极和阳极之间的某一地点,电子束会集成一个交叉点,这就是通常所说的电子源。交叉点处电子束直径约几十个微米。;聚光镜用来会聚电子枪射出的电子束,以最小的损失照明样品,调节照明强度、孔径角和束斑大小。一般都采用双聚光镜系统,如图2-25所示。第一聚光镜是强激磁透镜,束斑缩小率为10~50倍左右,将电子枪第一交叉点束斑缩小为1~5μm;而第二聚光镜是弱激磁透镜,适焦时放大倍数为2倍左右。结果在样品平面上可获得2~10μm的照明电子束斑。 ;(2)成像放大系统; 物镜的分辨率主要取决于极靴的形状和加工精度。一般来说,极靴的内孔和上下级之间的距离越小,物镜的分辨率就越高。 为了减少物镜的球差,往往在物镜的后焦面上安放一个物镜光阑。物镜光阑不仅具有减少球差,像散和色差的作用,而且或以提高图像的衬度。 此外,我们在以后的讨论中还可以看到,物镜光阑位于后焦面的位置上时,可以方便的进行暗场及衬度成像的操作。 在用电子显微镜进行图像分析时,物镜和样品之间和距离总是固定不变的,(即物距L1不变)。因此改变物镜放大倍数进行成像时,主要是改变物镜的焦距和像距(即f 和 L2)来满足成像条件。 ; 中间镜是一个弱激磁的长焦距变倍透镜,可在0-20倍范围调节。当M1时,用来进一步放大物镜的像;当M1时,用来缩小物镜的像。在电镜操作过程中,主要是利用中间镜的可变倍率来控制电镜的放大倍数。 如果把中间镜的物平面和物镜的像平面重合,则在荧光屏上得到一幅放大像,这就是电子显微镜中的成像操作,如图2-26所示。;(三)投影镜;物; 中间镜 (作物镜用);(3)、图像观察记录部分;(4)、样品台(倾斜、旋转);2、透射电镜的主要性能指标;; 放大倍数; 加速电压;三、透射电镜样品制备方法;;;2、薄膜样品的制备;;3、复型样品的制备;(1)衬度:电子图像的光强度差别。 ;电子束穿透试样后,在入射方向的电子数,即散射角小于α能通过光阑参与成像的电子数,随 的增加而衰减。;质厚衬度;(2)真空镀膜;一级复型是指在试样表面的一次直接复型。 塑料(火棉胶)一级复型,相对于试样表面来讲,是一种负复型,即复型与试样表面的浮雕相反。 碳膜一级复型是一种正复型。 二级复型是在塑料一级复型上再制作碳复型。 萃取复型是在复制表面形貌同时,粘附下第二 相粒子。 ;塑料一级复型;碳一级复型;投影;塑料-碳二级复型;在上述三种方法中, ? 碳一级复型分辨本领最高,可达2nm,但剥离较难; ? 塑料一级复型操作最简单,但其分辨本领和像的反差均比较低,且在电子束轰击下易发生分解和烧蚀; ? 塑料—碳二级复型操作复杂一些,其分辨本领与塑料一级复型基本相同,但其剥离起来容易,不破坏原有试样,尤其适应于断口类样。;萃取复型;;粒度分布均匀, 呈椭圆形, 可以计算尺寸; 思考题;四、电子衍射;电子衍射与X射线衍射相比的优点: ; 电子衍射强度有时几乎与透射束相当,以致两者产生交互作用,使电子衍射花样,特别是强度分析变得复杂,不能象X射线那样从测量衍射强度来广泛的测定结构。此外,散射强度高导致电子透射能力有限,要求试样薄,这就使试样制备工作较X射线复杂;在精度方面也远比X射线低。 ;1、电子衍射基本公式和相机常数;2、单晶电子衍射谱;;单晶电子衍射谱的几何图形;3、多晶电子衍射谱;NiFe多晶纳米薄膜的电子衍射;非晶体的电子衍射图; 与X射线衍射法所得花样的几何特征相似,由一系列不同半径的同心圆环组成,是

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