MS2000客户培训剖析.ppt

Mastersizer 2000;Part 1 目标;粒径的基本概念;概念;工业与日常生活中的颗粒;颗粒的概念：描述;概念;粒度表征方法 (400种）;筛分;实际上颗粒更像这个样子，所以测出来的表观结果与实际不符;当颗粒通过小孔时,电阻的增加正比于颗粒的体积。高分辨率，所测颗粒体积与形状无关,但颗粒必须分散在电介质溶液内;广泛应用于油漆与硅酸盐工业 需要颗粒在液体中依靠重力而沉降 相对较低价的方法，如你有足够的时间! 如正确操作，可得到重现的结果;沉降法;沉降：缺点;图像分析;由于需要测量相当多的颗粒，如要得到可信任的结果，必须要用自动化 电子显微镜 样品制备很费时 在有限的时间内只能测量较少的颗粒 自动图像分析 很快的可测量大量的颗粒，但软体必须能辨别单个颗粒;显微镜：缺点; 已知一个规则长方物体，您会如何表示这个物体？; 您可以这样表示: “360x140x120mm” 不过这种表述需要3个数值，对于复杂三维物体，我们如何使用一个数值来表示这个物体？;概念 — 等效圆球;概念 – 等效圆球;分布的表征;激光衍射 – 基本原理;激光衍射 – 光散射;激光衍射 – 光散射;激光衍射法粒径测试基本原理示意图;The Mastersizer 2000 测量光路图;对于微米量级的小颗粒测量，MS2000使用波长为466纳米的蓝光提高检测信号强度。;激光衍射：– 基本原理;激光衍射：– 基本原理;激光衍射：– 基本原理;激光衍射：– 基本原理;激光衍射：– 基本原理;The Mastersizer 2000测量;The Mastersizer 2000测量;The Mastersizer 2000测量;Part 1 小结;Mastersizer 2000;Part 2;激光衍射法 – 得到粒径分布结果;理解数据反演处理过程;?;粒径分布的计算过程;计算过程;激光衍射法 – 得到粒径分布结果;粒径分布表示;粒径分布表示;颗粒粒径分布的不同表示;颗粒粒径分布的不同表示-数量分布;颗粒粒径分布的不同表示-体积分布;颗粒粒径分布的不同表示-体积分布;这并不是因为线性坐标看起来很奇怪 主要因为大部分样品分布都很宽，而光散射的理论也是以对数形式纪录的（探测器分布）;颗粒分布的表征;均值，中值，峰值等等;只有正态分布：三个值是一样的;双峰分布的统计参数：;中值意味着样品颗粒中??一半颗粒的粒径低于该值，而另一半颗粒粒径均大于该值 中值通常还以下属三种形式出现: 体积百分比50 Dv50 D[v,0.5] V表示粒径中值是基于体积分布导出的 其他体积百分比数值如Dv10 ，Dv90 定义也是基于同样意义 ;平均值;显微镜：数量-长度平均;图像分析：数量-面积平均;激光衍射：体积-长度平均;不同技术：不同结果;所有值都由于平均的方法不同与权重不同而异，以D[p,q]表示 D[0,0]=几何平均直径= D[1,0]=算术平均直径= D[3,2]=Sauter平均直径= D[4,3]=体积权重平均直径=;D[4,3] 对样品中大颗粒的存在敏感;D[3,2] 对样品中小颗粒的存在敏感;其他粒径分布参数;Part 2 小结;Mastersizer 2000;Part 3;数据质量 – 介绍;数据质量 – 介绍 ;数据的构成;背景数据与系统洁净度;干净的背景 – 湿法测量系统;干净的背景 – 干法测量系统;差的背景 – 有杂质附着在样品窗上;差的背景 – 分散介质被污染;差的背景 – 系统对光不准;差的背景 – 有机分散介质中存在温度梯度;消除溶剂温度梯度;湿法分析：小编号检测器上的数据;避免差的背景 – 最后的检查...;避免差的背景 – 最后的检查...;样品数据 – 添加适量的样品 – 介绍;添加样品;添加样品;信噪比 – 大颗粒测量;信噪比 – 小颗粒测量;避免负数据;正确与不正确的背景;多重散射;湿法分析 – 多重散射;添加样品 – 关于合适遮光度的指导;光束偏转Beam Steering;负的数据 – 介绍;避免负的数据;干法测量数据质量;干法测量 - 细粉模式;如何提高干法测量的数据质量?;小结 – 数据质量;Part 3 小结;光学参数;Part 4;散射光基础夫琅合费理论 Vs 米氏理论（Fraunhofer v Mie ）;早期的颗粒粒径分析仪器采用夫琅合费模型，主要是受到当时计算机数据处理能力的限制而不得不作近似处理 从1986年开始，更精确的颗粒散射模型被引入到粒度分析中，米氏理论可以正确的预计不同角度下，不同波长光线对已知大小颗粒的散射光强;夫琅合费理论 Vs 米氏理论（Fraunhofer v Mie ）;米氏理论 – 物质散射光强模型 ;散射光强模型 – 米氏理论;散射光强模型 – 夫琅合费理论;所谓的优点