X-射线荧光光谱法测定鹿鸣矿业钼精矿中铜.docxVIP

X-射线荧光光谱法测定鹿鸣矿业钼精矿中铜吴学伟1、樊帆2、程永彪3、刘杰4（鹿鸣矿业有限公司 ，黑龙江铁力市，152500）摘要：采用粉末压片法制样，利用鹿鸣矿业钼精矿标准样品建立工作曲线，X-射线荧光光谱法测定钼精矿中铜。本文讨论了样品粒度、压样机压力对测定结果的影响；选择合适的激发条件；采用经验系数法校正基体间相互干扰。测定结果与国家标准方法的测定值相符，相对标准偏差在0.35%-4.75%之间。可满足日常分析需要。关键字： 鹿鸣矿业；压片；x射线；钼精矿；矿物效应。引言:钼精矿俗称“工业味精”，它是生产工业氧化钼、钼铁以及其他金属产品的重要原料。通常用作合金及不锈钢添加剂，可增强合金的强度、硬度、可焊性及韧性，还可增强其耐高温强度及耐腐蚀性能。Cu为钼精矿产品中的含杂元素，Cu含量的准确分析对钼精矿产品的品质有着重要作用。钼精矿中铜的分析方法有极谱法[1]和原子吸收法[2]等方法。 X荧光光谱法是近年来发展起来的一种快速、准确、重现性好、精密度高的分析方法。分析样品无需进行消解，具有样品制备简单，测量不损坏试样，对环境污染少等优点，只要建立方法，即可满足多样品多元素的快速测定需要。本文通过大量实验，采用粉末压片法[3]，针对鹿鸣矿业钼精矿基体性质选择合适的分析条件，使用内控系列标准样品建立标准曲线。通过大量数据对比调整工作曲线到最佳状态，很好的测定了钼精矿中的cu元素含量。1实验部分1.1仪器及工作条件Axios系列波长色散X射线荧光光谱仪（荷兰帕纳科公司），仪器型号：PW4400，光管功率4000w，最大激发电压60kv，最大电流125mA。配备16个位置（直径32mm）的样品交换器，dell计算机以及super Q 分析软件。ZHY-401A型电动压片机（北京众合创业科技发展有限公司）。钼精矿中各元素的含量变化相对较大，谱线干扰也较为严重，因此对Cu的测量条件进行了仔细筛选，可供选择的谱线有Ka，Kb，La。其中Ka线能量大，加Al（750）滤光片后强度适合，且不受其他元素的谱线干扰，故选择Ka线作分析线。元素测定条件见表1.表1 元素测定条件Tab. 1 Measuring conditions of elements元素谱线晶体狭缝探测器过滤片激发电压（KV）激发电流（mA）CuKaLiF200150ScintAl（750）60661.2 样品粒度影响样品的粒度大小与均匀性直接影响x射线在样品上的散射、吸收和激发。对不同粒度下压片的测定效果进行比对，发现粒度对测定结果的重复性和准确度均有较大的影响。粒度越大得到的信号越不稳定，测量结果越不准确。通过实验发现，当粒度小于0.090mm，测定结果趋于稳定。所以标准样品与生产样品的粒度必须小于0.090mm。1.3 压片机压力的确定将粉末样品分别在不同的压力下压片，进行测定。结果表明，荧光强度随着压力增大而增大，当压力大于15t后，各元素荧光强度基本不再变化，本实验选用压力为20 t，保压时间30s。压片机压力实验结果见图1。图1 压片机压力与荧光强度关系图1.4标准样品制备标准样品与测定样品在基体方面要保持一致或相似，选取不同品位段的内控样品，将样品进行加工处理，研磨至粒度小于0.074（200目），用国家标准方法对样品进行定值（平行测定取平均值）。本次实验选取钼精矿标准样品中Cu 元素的含量范围（质量分数）为0.31%-8.12。1.5 背景扣除与PHD检查建立曲线时，样品背景的扣除和PHD的检查直接影响样品的测定结果，如样品背景扣除过多，样品测量数据偏低，相反背景扣除过少，则样品数据测量偏高。故选取标准样品中品位段在中间部分的样品进行扣背景与PHD检查较为合适。1.6 工作曲线建立及样品分析按照选定的参数和工作条件设定仪器，对钼精矿系列标准样品进行测定，在Super Q 4.0分析软件上进行强度计算、回归曲线，通过曲线回归的优劣确定最佳工作条件，根据工作条件建立最佳工作曲线，确立分析方法[4]。2 结果与讨论2.1 基体效应与谱线重叠校正由于压片法存在颗粒度效应、矿物效应，标准样品中组分含量变化很大，需进行基体效应校正。帕纳科所用的校正数学公式[5]为： =-+(1+)式中：为未知样品中分析元素i的含量；为分析元素i的校正曲线的截距；为干扰元素k对分析元素i的谱线重叠干扰校正系数；为干扰元素k的含量或计数率；为分析元素i校正曲线的斜率；为分析元素i的计数率；n为共存元素的数目；a为基体校正因子；i、j、k分别为分析元素、共存元素和干扰元素；为共存元素含量。2.2 检出限检出限计算公式: LD=式中：m为单位含量的计数率； Ib为背景计数率； tb为背景的计数时间。 Cu元素的检出限为60μg/g。2.3精密度与准确度对三个钼精矿样品分别进行10次测定，方法的