AFM简介-实验课重点分析.pptVIP

原子力显微镜Atomic Force Microscopy 光学显微镜 扫描探针显微镜SPM scanning tunneling Microscopy (STM，1982) Atomic force microscopy (AFM) Lateral Force Microscopy (LFM) Magnetic Force Microscopy (MFM) Electrostatic Force Microscopy (EFM) Chemical Force Microscopy (CFM) Near Field Scanning Optical Microscopy (NSOM) AFM信号反馈模式 接触模式 (contact mode) 非接触模式 (non-contact mode) 轻敲模式 (tapping / intermittent contact mode) 特点： 1）分辨率几乎同接触模式一样好； 2）接触非常短暂，因此剪切力引起的对样品的破坏几乎完全消失； 原子力显微镜之解析度 为克服“加宽效应”： 一方面可发展制造尖端更尖的探针技术， 另一方面对标准探针进行修饰也可提高图像质量。 AFM技术的主要特点: 缺点: 对试样仍有较高要求,特别是平整度. 实验结果对针尖有较高的依赖性(针尖效应). 仍然属于表面表征技术,需和其他测试手段结合. 高分子领域的应用 聚合物膜表面形貌与相分离观察 聚合物膜表面形貌与相分离观察 对非晶态聚合物膜,形貌图信息较为有限。AFM“相成像”方式 (phase imaging)得到的数据与样品表面硬度和粘弹性有关，可以观察相分离．即使在样品表面相对“平坦”的情况下,也能较好地反映出聚合物的相分离后,不同类型聚合物的所在区域。 高分子结晶形态观察 非晶态单链高分子结构观察 聚苯乙烯/聚甲基丙烯酸甲酯嵌段共聚物的苯溶液在ＬＢ膜槽内分散,而后在极低的表面压下(0.1ｍＮ/ｍ)将分子沉积在新鲜云母表面。 制样之关键 涂膜的厚度 溶液的浓度 成膜的条件 与基体材料的结合（云母/玻片/石墨片） 膜的干燥 表面要求平整； 对于较大的颗粒、细胞, 可用如盖玻片, 硅片等； 较小的颗粒样品在要求云母片或单晶表面。 上海市真空学会成立20周年及第9界学术年会论文集。纳米粉体AFM分析理想分散度的制样研究 对影响制样质量的主要因素进行了研究。在改善颗粒团聚和分布均匀性方面，采用旋涂(sp)法制样，和常用滴液法相比，颗粒更分散、分布更均匀，随机选取l~2个测试点获得的测量结果具有一定的代表性和普遍性。 AFM 以分辨率高、制样要求简单、得到的样品表面信息丰富的特点在各领域得到了越来越广泛的应用。 THE END！ 在什么样的制样条件下获得最佳成像质量根据样品不同而异。 基本原理 氮化硅探针针尖放大图 基本原理 针尖技术 单碳纳米壁管 直径0. 7～5 nm 基本原理 优点: 制样相对简单,多数情况下对样品不破坏. 具有高分辨率，三维立体的成像能力， 可同时得到尽可能多的信息. 操作简单,对附属设备要求低. 主要内容 发展历史 工作原理 应用 原子力显微镜的应用 金属 半导体材料 化学 纳米材料 生命科学 微加工技术 …… 用AFM观察DNA双螺旋结构 生物和生命科学 用AFM观察细胞生长 生物和生命科学 用AFM观察集成电路的线路刻蚀情况 微电子科学和技术 Kajiyama等人应用AFM研究了单分散聚苯乙烯(PS)/聚甲基丙烯酸甲酯(PMMA)共混成膜的相分离情况。 膜较厚时(25μｍ), 看不到分相。膜厚100nｍ时,可以得到PMMA呈岛状分布在PS中的AFM图象。 AFM在聚合物膜研究中的应用 1 表面整体形态研究 2 孔径(分布),粒度（分布）研究 3 粗糙度研究 1 表面整体形态研究 2 孔径(分布),粒度（分布）研究 Section analysis of TM-AFM image. Tapping mode atomic force micrographs 3 粗糙度研究 粗糙度（Surface roughness）表示膜表面形态间的差异，影响着膜的物理和化学性能、膜表面的污染程度和膜的水通量。 膜污染研究-超滤膜或微滤膜 　新膜表面三维图 X —1μm/ 格; Z —50 nm/ 格 　污染膜表面三维图 X —1μm/ 格; Z —2 000 nm/ 格 AFM测试样品要求 样品高度≤1.5mm 样品直径≤1cm 污染物干扰小 基底平整 测试样品与载物台结合紧密 AFM制样 固态块状样