物理光学5-11.8研讨.pptVIP

图2-23多光束相干光的获得 2-6 低相干光源干涉术(白光干涉) * * 光学原理与应用 2-5 平行平板多光束干涉 一、多光束干涉的强度分布 我们只讨论了从平板上、下两表反射而来的两束光叠加后所产生的双光束干涉现象。这时只有前两束反射光的强度相近，能产生可见度较好的干涉条纹。当反射率很高时，这种忽略就不能允许。这种由多束相干光叠加而产生的效应就称为多光束干涉。 L 0 h P f r n0 θi n0 θi θt n 图2-20 多光束干涉的实验装置 如图，每相邻两反射光的光程差： nh q cos 2 p 4 t nh k q l d cos 0 = D = = D 由光程差引起的相位差： 反射光 叠加后反射光 复振幅为： 由Fresnel公式: 反射光强: n C4 S C3 C2 C1 n0 D1 D1 D1 θi θt n0 图2-21多光束相干光的获得 r t n n0 n0 r′ r′ t′ t′ 图2-22 平板上的反射和透射 2-5 平行平板多光束干涉 式中： R = r2 —— 平板反射率 ——入射光强 n—平板折射率， h—平板厚度， qt—折射角 2-5 平行平板多光束干涉 透射光: 透射光强: 因为： 设精细度系数： n C4 S C3 C2 C1 n0 D1 D1 D1 θi θt n0 2-5 平行平板多光束干涉 图2-24 多光束干涉的透射光强分布 透射光强如图所示： 0 1.0 2m? 2(m+1)? y F=0.2 R=0.016 F=2 R=0.27 F=20 R=0.6 F=200 R=0.87 从图中可知：多光束干涉时，透射光强之极小值不为零，且其值由表面反射率R决定，R愈大，则极小值愈接近于零 当q=2mp时，透射光强有极大值: Itmax=I0 当q=(2m+1)p时，透射光强有极大值: Itmax=I0(1-R/1+R)2 2-5 平行平板多光束干涉 二、 干涉条纹的特点 1、光强分布由反射率R决定。 2、干涉光强的极大值与R无关，恒等于I。 3、条纹半宽度:是用其半强度宽度，即半宽度来量度。在透射光的情况下，半宽度是指极大两边强度下降到峰值一半时两点间的距离。 2-5 平行平板多光束干涉 条纹宽度： e——1/2 I0 处条纹宽度 或条纹半宽度 分析： R ? ? ε ? 条纹变窄 1.0 0.5 特征参量： 图2-25 条纹的半宽度e 主要参量：δ(n,h,ei or q),R or F . 特点：极值位置（由δ定),条纹锐度由R定） 2-5 平行平板多光束干涉 精细度： 含义：两极大值之间可容 N 个条纹 e是仪器宽度，不是光源的谱宽 实际的光谱宽度：仪器宽度 e +光源谱宽 155 77 51 29.8 14.1 4.5 N 9800 2400 1044 360 80 8 F 0.98 0.96 0.94 0.9 0.8 0.5 R 多光束干涉R、F和N的关系表 通常用精细度N来表征条纹的锐 度，精细度N是指相邻两条纹 之间的间隔和条纹的宽度之比。 2-5 平行平板多光束干涉 “低相干光源干涉术”，或“宽光谱光源干涉术”俗称“白光干涉术”，是指使用低相干光源的干涉术，由此构成的干涉仪则为低相干光源干涉仪（或称白光干涉仪）。其特点是干涉仪的光源不是单色光波，而是有一定谱宽。但绝非用白光作光源。因此“白光干涉仪”的名称不够确切。 用低相干光源干涉仪的目的是为了克服一般干涉仪只能作相对测量而不能作绝对测量的缺点。因为用单色光源构成的干涉仪无法标定干涉条纹的级次。因而也就无法确定被测量的绝对值。只能通过干涉条纹的移动来测量距离、长度等被测量的变化值。这说明：单一波长构成的干涉仪只能测变化量，而无法测状态量。为此人们改用有一定谱宽的光源所获得的干涉条纹来确定干涉条纹的级次（实际是由等光程确定零级条纹的位置），从而达到对状态量测量的目的。 1 2 宽谱光源 示波器 测量干涉仪 参考干涉仪 微位移器 M1 M2 M3 M4 1 1′ 2 2′ 图2-26白光干涉仪原理图 上图是低相干光源干涉仪的原理图，要由两套迈克尔逊干涉仪构成：一套用于测量，另一套用作参考干涉仪。 在图中这两束光是： ①光源 分束镜S1 反射镜M2 分束镜S1 分束镜S2 反射镜M4 分束镜S2 光检测器； ②光源 分束镜S1 反射镜M1 分束镜S1 分束镜 S2 反射镜M3 分束镜S2 光检测器. 2-6 低相干光源干涉术(白光干涉) 图2-27宽光