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- 2016-08-10 发布于湖北
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* * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * * (2) 死时间校正 各道死时间由成形电路决定,用?表示。在? 时间内,放射源不发生衰变的概率为1-A? 考虑死时间后,?道的探测效率为: 所以,?道的计数率可表示为: 在?内发生衰变的概率与探测效率的乘积。 在?内发生衰变,但没有被测到,这部分实际上未受?的影响,要补回去。 类似可得出 ? 道的计数率为: 符合道的计数率应为: 并考虑 A? 1,可得到: 若 综合考虑偶然符合及死时间两项修正,可以得到源活度A. 这样,只要测出三道的计数率及它们的本底计数率,并事先测定各道的死时间和符合装置的分辨时间,就可以求出源的活度。 其它校正因素还有: 内转换电子修正; ?探测器对?灵敏度修正;?探测器对?灵敏度修正; ?-?符合计数修正,等。 5) 双PMT液体闪烁计数器 特点:采用符合方法,可以降低光电倍增管的噪声,有利于低能?粒子核素等的测量。 6)、延迟符合装置测量核激发态寿命 瞬时符合曲线; 延迟符合曲线。 当? e ? 时, 取对数,得到: 直线拟合可以求出核激发态寿命?e 。 7.3 ?能谱与?最大能量的测定 1. 能量的测量 凡是辐射粒子的能量测量,探测器都必须工作于脉
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