Mentor_mbist学习总结_201207180.docxVIP

  • 32
  • 0
  • 约7.16千字
  • 约 12页
  • 2016-08-11 发布于重庆
  • 举报
Mentor_mbist学习总结_201207180

Mentor mbist学习总结Author:lu.hongboDate:2012-7-18Mbist添加的必要当前设计中,加入内嵌的memory是很普遍的事情。因为内嵌的memory可以解决芯片的端口数量问题,也可以在整体方案重降低BOM成本,但这只是它带来的好处;坏处也随之而来,首先内部潜入了memory会增大芯片的面积,其次加入内嵌memory也带来了失效率增加的风险。下面用一附图来说明memory在芯片中的比重。如果说一个芯片中逻辑部分占用了整个芯片60%的面积(包括数字和模拟部分),那么剩下的面积就完全被memory占有了。所以memory给芯片的失效带来的风险也是不可忽视的一部分,有可能工艺环境带入的灰尘,亦或生产阶段的种种原因,导致缺陷落在这40%的面积上的可能性是不可忽视的。memory的类型既然memory的测试这么重要,我们就应该掌握所有memory的特性。首先了解memory的类型。memory的划分如下:memory深度不同和memory的位宽不同同步的memory或者是异步的memory单端口的memory或者是多端口的memorySRAMDRAMEEPROM和EPROMROM每一种memory都有自己的特点,针对不同的memory施加对应的测试激励才能够有效地达到测试的目的,这里我们也是实现了具体问题具体分析的哲学理念。但是针对memory的BIST测试

文档评论(0)

1亿VIP精品文档

相关文档