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- 2016-08-15 发布于贵州
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* 数字电子技术基础 上一页 下一页 返 回 * 第二章 电磁场基本方程 实验一 门电路的测试 一、实验目的 1、学会检测常用集成门电路的好坏的简易方法。 2、掌握TTL与非门逻辑功能和主要参数的测试方法。 二、实验仪器与器件 1、元器件:74LS0,74LS20,100Ω、10kΩ电阻,电位器等。 2、电子线路实验台(数字电压表,数字毫安表,+5V直流稳压电源)。 三、实验原理 1、集成逻辑门电路的管脚排列: (1)74LS20(4输入双与非门):Y=(ABCD)′ 74LS20 1 7 8 14 VCC GND 1A 1B 2A 2B 1C 1D 1Y 2C 2D 2Y NC NC VCC表示电源正极,GND表示电源负极;NC表示空脚。 (2)74LS00(2输入四与非门):Y=(AB)′ 74LS00 1 7 8 14 VCC GND 1A 1B 1Y 2A 2B 2Y 3A 3B 3Y 4A 4B 4Y 2、TTL与非门的主要参数有: 导通电源电流ICCL,低电平输入电流IiL,高电平输入电流IiH,输出高电平VOH,输出低电平VOL,阈值电压VTH等。 注意:不同型号的集成门电路其测试条件及规范值是不同的。 3、检测集成门电路的好坏的简易方法:
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