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ywh霍尔效应及霍尔元器件基本参数测定
一、实验目的 1.了解霍尔效应原理以及霍尔器件对材料的要求 2.测元件的霍尔系数、载流子浓度及迁移率 3.确定导电类型 4.了解对称测量法 二、实验原理 洛伦兹力 荷兰物理学者亨德里克·洛伦兹提出。 定义:磁场对运动电荷的作用力。运动(v)电荷(q)在磁场(B)中所受到的力(F)。 计算洛伦兹力:FB=qvB 洛伦兹力FB=qvB的方向判断: 疑问? 霍尔电压可测或可计算? 霍尔电压与哪些因素有关? 与直流电流有关吗? 与磁场有关吗? 与元件有关吗? 3、VH-Is关系:直线 4、VH-IM关系:直线 三、实验仪器 表10-1: 保持 Im=0.600A不变,测霍尔电压 表10-2:保持Is=3.00mA不变,改变IM, 测量霍尔电压 -12.18 12.37 -11.99 12.02 -12.32 0.8 -10.65 10.84 -10.47 10.5 -10.8 0.7 -9.14 9.32 -8.95 8.99 -9.28 0.6 -7.61 7.8 -7.43 7.47 -7.75 0.5 -6.09 6.27 -5.91 5.95 -6.23 0.4 -4.56 4.74 -4.37 4.41 -4.73 0.3 UH(mV) U4(mV) U3(mV) U2(mV) U1(mV) IM(mA) * 实验10 Page 96 1879年, 美国物理学家霍尔(E. H. HaLL)发现: B Is⊥B Is 为什么出现 霍尔电压? 运动电荷受磁场力的作用有关 右手定则: 大拇指反方向 =FB方向 q负 大拇指方向 =FB方向 q正 确定F方向 大拇指方向 B方向 四指弯曲方向 V方向 四指方向 霍尔效应 N型半导体(Negative) :电子为载流子 F洛(B) - v e B 测得霍尔电压为负(negative) s s 测得霍尔电压为正 (positive) B P型半导体(positive):空穴为载流子 s s F洛 b:霍尔片高度 d: 霍尔片宽度 V1 V2 s s F洛 b:霍尔片高度 d: 霍尔片宽度 E:电场强度 1、霍尔电压(VH=V1-V2): 计算霍尔电压 :VH=bE P型半导体:空穴为载流子 V1 V2 怎么求电场强度E? 可测,可计算? s s F洛 平衡时F洛=Fe n载流子数密度 霍尔电压V1-V2=bE E=? 运动电荷速度v=? V1 V2 s s F洛 n载流子数密度 S=bd为霍尔片截面积 d为霍尔片宽度 s 运动电荷速度v=? 霍尔电压VH=bE=bvB 霍尔系数RH 问:怎么用可测的VH求霍尔系数RH? 霍尔系数: 反映霍尔效应强弱; 其符号决定于试件中载流子是带正电荷(空穴)或负电荷(电子)。 与电流、磁场强度、霍尔片有关? 2、求霍尔系数RH B=kIm(k已知,为B与励磁电流Im的转化系数,从测试仪上查出); 所加的励磁电流Im和直流电流Is可知道; d为霍尔片厚度。 保持励磁电流IM(可测)不变,则B不变; B=kIM(k已知,为B与IM的转化系数,从测试仪上查出); d为霍尔片厚度 测VH、Is, 作VH-Is直线 常数 测定数据 表10-1 保持Is(可测)不变; k已知,为B与IM的转化系数; d为霍尔片厚度 测VH、IM 作VH-IM直线 测定数据 表10-2 常数 e=1.6×10-19C 5、求载流子浓度n μ l为已知,为A、C距离; S=bd为霍尔片截面积; 零磁场Im=0时,A、C之间的电位差 7、判断N或P型 霍尔效应测磁场 霍 尔 效 应 实 验 仪 霍尔 效应 实验 组合 仪 IM输入 Is输入 VH/Vσ输出 实 验 仪 参考讲义 注意: 开关机前,测试仪上的“IM调节”及“IS调节”旋钮 均置于零(逆时针旋到底)。 1.连接测试仪与实验仪之间的各组连线page 99 图10-2 红-红连线 黑-黑连线 IM输入 Is输入 VH/Vσ输出 实验仪 目的消除误差: 霍尔元件中的副效应(不等势电压; 由温差电效应、热磁效应引起的附加电压) 分别测量四组不同的A’、A两点的电
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