第三章 电介质物理导论第三章1.ppt

其中εr∞差不多与温度无关，故εrs与温度的关系主要由A/T项决定， 画出在一定频率下整个温度范围内εr′与温度T的关系曲线， 见图3—18。 由图中可以看出，当频率变动，如频率增高时，极大值将向高温方向移动，反之亦然。 解释：ω2＞ ω1 , εr′不变，即保持ωτ不变，要求 τ T 对tgδ的温度关系来说，在高温区，在式(3—125)中的 项可能比 项小，如果将其略去，则该 式可简化为 很明显，tgδ随温度的升高而减小。 T 低温区tgδ随温度升高而增大，高温区 tgδ随温度的升高而减小。 推知在具有弛豫性质的介质损耗角正切与温度的关系中将出现最大值。 由tgδ～ω关系中，已求出在满足 的条件下，tgδ具有极大值。 改写为 由此可见，当频率一定时，在符合由上式表示的松弛时间τm所 对应的温度下，tgδ达到最大值。 结论 于是，在从低温到高温的整个温度范围内，tgδ 随温度变化的特性曲线如图3—19所示。 若频率提高(如由ω1→ω2)，tgδ达到最大值所对应的温度亦相应提高，即移向高温方向， 解释： ω τm 要求Tm ，才能保持tgδ不变。 εr″与温度的关系特性与tgδ与温度的关系特性类似， 当温度一定时， 当频率一定时，在满足τm＝1/ω条件所对应的温度下，εr″具有最大值。将这一条件与式(3—128)相比较， 显然可见，出现εr″最大值对应的温度将略 ？于出现tgδ最大值所对应的温度。为了便于比较，图3—20中同时画出了εr′、εr″与温度的关系曲线。 高 ω τm 要求Tm 才能保持 不变。 εr″ T变化后，使 达到最大值， εr’应为 εr″ §3—8计及漏电导时的介质损耗 在导出Kramers—Kr?nig关系式及德拜方程式时，暂不计及漏导电流及其所引起的损耗。 但是，对于任何一个实际电介质，当受到外电场作用时所发生的物理过程—— 由弛豫机构导致的电流密度+ 由漏电导机构导致的电流密度， 这样在综合了对电介质中电流密度各种贡献以后，实际电介质中的电流矢量图将如图3—21所示。 由图可见，电介质中产生损耗的有功电流密度计有如下两个分量： jlp——由弛豫过程产生的有功电流密度； jlc——由漏导引起的电流密度。 而不产生损耗的无功电流密度也有两个分量， 即：jcc——由位移极化产生的纯电容电流； jcp——由弛豫过程(极化)产生的电容电流。 jlc jlp jcc jcp 于是，在计及了漏电导的介质损耗角正切为： 式中，γ是介质的电导率。 有功项（电流），产生损耗 无功项（电流），不产生损耗 （3-129） （参见式3-11） ja: jr: 如果计及德拜方程(式3—73和式3—74)，并注意到式(3—86)，便有： 1． 对静电场，ω＝0，由式(3—130)可知，tgδ→∞这表示在静电场中，tgδ是没有物理意义的，tgδ只是介质在ω≠0的交变电场中的物理参数。 2. 当频率很低时，含有ω2τ2或ωτ的项可以近似地略去，故损耗主要由漏导电流引起，此时有： 在低频段，tgδ随频率的升高成反比下降 特殊地，当介质电导率很小时，漏导电流可以忽略时，则转为德拜方程（3-75），损耗全部由弛豫过程引起 讨论tgδ与频率的关系： （3-131） 3.当频率较高时，tgδ与ω的关系基本上服从于图3—9(c)所示变化规律， 如果电导损耗所占比例逐步增加时，tgδ的弛豫最大值将不显著，当γ值很大时，tgδ的极大值有可能完全被淹没，2和3情形下的tgδ与频率的关系分别如图3—22(a)和图3—23(a)所示。 图3-22 图3-23 1． 当温度很高时，电导率γ变得很高，而在式(3—130)中其余各项影响相对很小，故此时tgδ的表达式仍旧适用于式(3—131)，即 而γ与温度的关系是γ＝Ae－B/T，因此，当主要考虑电导的影响时， tgδ随温度的升高呈指数式增大。 tgδ与温度的关系 2． 当温度很低或较低时，由于γ值小，电导引起损耗的比例相对较小， 介质损耗主要决定于弛豫过程，一定频率下于某个温度出现tgδ的极大值。 当频率增高时，