尺寸链计算中不合格率的计算原理.docVIP

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2017-06-07 发布于重庆
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尺寸链计算中不合格率的计算原理

尺寸链校核时不合格品率的计算方法前提：基于正态分布的假设均值与理论中值允许有1?的偏差超差部分的表达不合格率就是落在以上两个红色区 -∞?-ITobj/2及ITobj/2 ~+∞?的概率际上,我们允许生产中有1?的不对中,因而实际可能超差的部分为: 为了方便计算，上图横坐标为的0点为在正态分布的对称轴上 2. 风险值的计算风险值就是落在以上两个染色区 -∞?-?? -ITobj/2及-?? +ITobj/2 ~+∞?的概率设F为概率函数,风险概率为F R ,概率为P F R P X -?? -ITobj/2 + P ITobj/2 -? X F -?? -ITobj/2 / ? + 1 – F ITobj/2 -? /??? 1- F ? +ITobj/2 / ? + 1 – F ITobj/2 -? /??? ????F ? +ITobj/2 / ? – F ITobj/2 -? /??? 龙从林 2005-12-1 IT计算 ITobj 超差的可能超差的可能 ? -? + ITobj/2? 其中? 0 实际分布 -? - ITobj/2 IT ? IT计算/8 Disp/6