《粒子物理和核物理实验方法》4-1闪烁探测器n.pptVIP

* 迭加峰 除了全能峰的迭加效应以外，专指2个?射线同时进入探测器内被记录的迭加效应。对级联发射?射线的放射源产生的几率很大，当放射源很强时产生的几率也很大。 如测量60Co源的?射线能量时，一次核衰变放出2个级联的 ?射线，能量分别为1.17MeV 和 1.33MeV，有可能同时被探测器吸收记录，在对应2.5MeV处出现迭加峰。 * X射线峰 主要由放射源产生。有些放射源有与?射线发射相竞争的内转换效应或?衰变是经电子俘获完成的，这时处于激发态的原子将发射X射线。如 137Cs源经?衰变的子体137Ba有一部分发生内转换效应产生内转换电子，造成K壳层空位，外层电子跃迁填补，发射特征KX射线。137Ba K壳层结合能为32KeV，故在?能谱的最左边对应能量32KeV处形成X射线峰。 ?射线打到探测器周围物质上也会产生X射线，这些X射线进入探测器就会在低能端产生X射线峰。如?射线打到源周围的Pb屏蔽上，就会产生铅的88KeV的X射线，迭加在?射线能谱的低能端。 * 小闪烁体情况 * 大闪烁体情况 * 中等闪烁体情况 * 能量分辨是晶体的主要性能。 NaI(Tl)、CsI(Tl)对137Cs的能量分辨~4% 。 采用晶体的电磁量能器的能量分辨与入射能量有近似1/?E 的关系，可到 2%@1GeV， 低能：能量沉积涨落、晶体发光性能重要 高能：电子学噪声、光收集均匀性、能量泄露、以及刻度误差 有机闪烁体能量分辨差，且材质轻，对?射线不能全吸收。一般作时间或计数测量。 能量线性 低能：重粒子和多电荷粒子，在低能区有较大的dE/dX 和短的射程，故有高的沉积能量密度，导致闪烁体的发光出现饱和，导致非线性 高能：能量泄漏 * 四、探测效率 无机闪烁体 对带电粒子效率非常高，故一般指对?的探测效率 探测效率：原子序数Z大 全能峰探测效率：原子序数Z大，能量分辨好（发光强） 晶体量能器需测?0，效率是指能探测到多低能量的?射线。 发光强度和电子学噪声是关键 有机闪烁体 由于材质轻，对?射线探测效率低，主要探测带电粒子。 对大面积闪烁体，由于传输衰减，远端效率较低。 降低甄别阈或提高PMT高压，但同时增加噪声 测量 符合测量可得效率坪曲线，以输出幅度最小的区域来确定PMT的工作高压，一般取坪下边沿+100V * 五、时间测量 发光衰减时间快的闪烁体，可以用于定时测量 有快成份的无机闪烁体如：BaF2，CsF2等（1-10ns），可测带电粒子和?的时间信息。 有机闪烁体，~ns，可做成大面积，探测带电粒子的时间信息。 时间分辨包括电子学系统 大面积闪烁体或有光导过渡的探测器，传输导致光的弥散和衰减，时间分辨变差 * 脉冲前沿过甄别阈的时间受到电子学的两个因素的影响。 幅度大小对过阈时间的影响 极端情况为脉冲的上升沿（快PMT~2ns） 可用电子学（恒比定时甄别器）或软件方法（同时测幅度，时幅修正）。 脉冲前沿在阈值区涨落的影响 叠加在前沿的电子学小扰动 多阈值测量，脉冲光滑分析 组成脉冲前沿的光电子数目涨落 小块闪烁体，直接到达光阴极的快光子多，传输时差也小，反映了该闪烁体的本征时间分辨。 * 时间分辨的测量 小块闪烁体可采用级联?射线源测量 与粒子的入射能量即光强有关 大面积闪烁探测器需考虑位置的影响，可采用宇宙线。对塑料闪烁体，传播速度 60ps/cm S1尺寸不能大，2cm ~100ps TDC的门信号直接用S1的信号 * 晶体的光输出和均匀性影响能量分辨率 用单能?源测量 五、晶体的光输出和均匀性测量 * 闪烁体在强辐照环境中随着辐照剂量的增加光输出会减弱。 闪烁体在辐照下，光透过率和吸收谱发生变化，导致光输出降低。（颜色发生变化） 一般用比较辐照前后光输出的变化来标定 样品的统计性，与原料、工艺相关。 剂量率要尽量与实际使用情况相当。大剂量率损伤大因不易恢复 辐照后需避光放置几天再测以减少自发荧光。 六、闪烁体的辐照效应 * 闪烁体 NaI(Tl) CsI(Tl) CsI BaF2 BGO GeF PbWO4 塑料闪烁体 累积辐照剂量rad 103 103 104 104 104 105 106 105 标准的选取与总剂量有关 光输出下降约20% * PWO * * §4-5 闪烁探测器的应用 一、无机闪烁体的应用 1、量能器 晶体建造的全吸收型电磁量能器是十分典型的应用测量?光子和电子能量分辨可达 有机闪烁体作为取样量能器的灵敏层 * 2、粒子鉴别 ? 脉冲形状甄别 PSD（Pulse Shape Discrimination） 不同质量的粒子在闪烁体中具有